本書首先簡(jiǎn)要介紹激光技術(shù)的發(fā)展歷程、原子在強(qiáng)激光場(chǎng)中的電離現(xiàn)象、高次諧波發(fā)射、阿秒脈沖研究進(jìn)展等。接著，通過求解一維含時(shí)薛定諤方程，介紹非均勻場(chǎng)驅(qū)動(dòng)下的氦離子高次諧波發(fā)射過程；通過在納米結(jié)構(gòu)空隙中心附近的區(qū)域內(nèi)變動(dòng)原子的空間位置，計(jì)算不同原子位置處的高次諧波譜；分析非均勻啁啾雙色場(chǎng)下啁啾參數(shù)、激光場(chǎng)強(qiáng)度、相對(duì)相位等對(duì)諧

本書從電磁兼容的基本原理出發(fā)，在對(duì)典型光電設(shè)備電磁兼容要素進(jìn)行分析的基礎(chǔ)上，系統(tǒng)論述了光電設(shè)備的電磁兼容技術(shù)。重點(diǎn)包括基本概念和原理、光電設(shè)備電磁兼容預(yù)測(cè)方法、光電設(shè)備的電磁兼容測(cè)試、器件與印刷電路板級(jí)電磁兼容設(shè)計(jì)及設(shè)備級(jí)電磁兼容設(shè)計(jì)，并以車載和機(jī)載光電設(shè)備為例，進(jìn)行了電磁兼容設(shè)計(jì)及驗(yàn)證。本書適合作為光學(xué)工程類、機(jī)械電

本書采用全流程設(shè)計(jì)的方式,對(duì)iOS和Android系統(tǒng)移動(dòng)設(shè)備界面的結(jié)構(gòu)及設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行講解。全書采用知識(shí)點(diǎn)輔助案例的方式組織內(nèi)容,在大量的知識(shí)點(diǎn)中融入豐富、有趣的案例制作,全面解析移動(dòng)端App界面設(shè)計(jì)的流程及設(shè)計(jì)技巧。書中案例使用AxureRP10、AdobeXD、AdobePhotoshopCC、AdobeIllus

衛(wèi)星和地面融合通信網(wǎng)絡(luò)是實(shí)現(xiàn)全域覆蓋、萬物智聯(lián)的關(guān)鍵。然而,衛(wèi)星通信和地面通信在信號(hào)傳播環(huán)境、通信和數(shù)據(jù)處理能力、通信/計(jì)算/存儲(chǔ)資源量、業(yè)務(wù)服務(wù)質(zhì)量保障能力等方面差異較大,星地融合網(wǎng)絡(luò)面臨諸多技術(shù)挑戰(zhàn)。本書聚焦星地融合網(wǎng)絡(luò)中的衛(wèi)星通信技術(shù),重點(diǎn)探討星地融合的衛(wèi)星通信技術(shù)演進(jìn)需要解決的關(guān)鍵技術(shù)問題及研究進(jìn)展。本書分析了

本書共10章,主要包括認(rèn)識(shí)短視頻、短視頻的內(nèi)容策劃與定位、拍攝方法、運(yùn)營(yíng)技巧、剪映APP的基礎(chǔ)操作、調(diào)色技巧、添加視頻字幕、添加音樂、制作卡點(diǎn)視頻、剪映電腦版綜合案例等內(nèi)容。本書特色:4章綜合理論知識(shí)＋6章專題技術(shù)講解＋38個(gè)實(shí)戰(zhàn)案例演示＋100多分鐘視頻演示＋110多款素材效果源文件＋740張圖片全程圖解,可以幫助讀

本書系統(tǒng)地介紹了從原理、操作到應(yīng)用等聲學(xué)掃描檢測(cè)技術(shù)所涉及的各方面內(nèi)容,主要內(nèi)容包括試驗(yàn)原理、操作指南、應(yīng)用案例、試驗(yàn)技巧和塑封器件五篇。第一篇試驗(yàn)原理介紹了超聲波的檢測(cè)原理和聲學(xué)掃描顯微鏡的工作原理,是聲掃試驗(yàn)的重要基礎(chǔ)。第二篇操作指南介紹了與試驗(yàn)操作相關(guān)的流程、設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)等,主要用于指導(dǎo)聲掃試驗(yàn)人員實(shí)踐操作。第三篇

本書是一本專門介紹React前端框架基本原理及其相關(guān)工程實(shí)踐的技術(shù)參考書。全書共分為14章,主要包括React基礎(chǔ)原理、React組件、React開發(fā)環(huán)境與工具、React高級(jí)技術(shù)、React應(yīng)用實(shí)例、React相關(guān)資源等方面的內(nèi)容。全書從React基本原理講到組件開發(fā),最后又講到實(shí)際工程環(huán)境,并以高校選課為實(shí)例進(jìn)行分

偽集成電路是指不符合正品集成電路設(shè)計(jì)規(guī)范要求的非授權(quán)產(chǎn)品,主要形式包括回收、重標(biāo)記、超量生產(chǎn)、不合格/有缺陷、克隆、偽造文件,以及篡改等,會(huì)大大降低應(yīng)用系統(tǒng)的安全性和可靠性。本書對(duì)偽集成電路相關(guān)問題進(jìn)行了全面剖析,并系統(tǒng)闡述并分析了其檢測(cè)與防范方法。本書面向偽電子元件領(lǐng)域的初學(xué)者和專家,全面介紹相關(guān)的研究背景、安全威脅

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