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集成電路封裝與測(cè)試(微課版)

集成電路封裝與測(cè)試(微課版)

定  價(jià):56 元

        

  • 作者:韓振花,馮澤虎
  • 出版時(shí)間:2024/3/1
  • ISBN:9787115629647
  • 出 版 社:人民郵電出版社
  • 中圖法分類:TN4 
  • 頁(yè)碼:0
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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本書較為全面地介紹集成電路封裝與測(cè)試技術(shù)知識(shí)。全書共8 個(gè)項(xiàng)目,包括認(rèn)識(shí)集成電路封裝與測(cè)試、封裝工藝流程、氣密性封裝與非氣密性封裝、典型封裝技術(shù)、芯片測(cè)試工藝、搭建集成電路測(cè)試平臺(tái)、74HC138 芯片測(cè)試和LM358 芯片測(cè)試。每個(gè)項(xiàng)目均設(shè)置了1+X 技能訓(xùn)練任務(wù),幫助讀者鞏固所學(xué)的內(nèi)容。 本書可以作為高職高專集成電路技術(shù)、電子信息工程技術(shù)等相關(guān)專業(yè)集成電路封裝、測(cè)試相關(guān)課程的教材,也可以作為集成電路類培訓(xùn)班教材,并適合集成電路測(cè)試、芯片封裝、芯片制造等專業(yè)人員和廣大集成電路愛(ài)好者自學(xué)使用。
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