本書旨在闡述ASIC物理設(shè)計(jì)所需的基本步驟，方便讀者了解ASIC設(shè)計(jì)的基本思想。本書以行業(yè)通用ASIC物理設(shè)計(jì)流程順序進(jìn)行編排，從ASIC庫的一般概念開始，依次介紹布局、布線、驗(yàn)證及測試，涵蓋的主題包括基本標(biāo)準(zhǔn)單元設(shè)計(jì)、晶體管尺寸和布局風(fēng)格、設(shè)計(jì)約束和時鐘規(guī)劃、用于布局的算法、時鐘樹綜合、用于全局和詳細(xì)布線的算法、寄生參數(shù)提取、功能驗(yàn)證、時序驗(yàn)證、物理驗(yàn)證、并聯(lián)模塊測試等。與直接闡述深層次的技術(shù)不同，本書重點(diǎn)放在簡短、清晰的描述上，抓住物理設(shè)計(jì)的本質(zhì)，向讀者介紹物理設(shè)計(jì)工程的挑戰(zhàn)性和多樣化領(lǐng)域。

更多科學(xué)出版社服務(wù)，請掃碼獲取。