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芯片封裝與測(cè)試

芯片封裝與測(cè)試

定  價(jià):39 元

        

  • 作者:關(guān)赫, 龍緒明, 李鋒編著
  • 出版時(shí)間:2022/11/1
  • ISBN:9787561282113
  • 出 版 社:西北工業(yè)大學(xué)出版社
  • 中圖法分類(lèi):TN43 
  • 頁(yè)碼:130頁(yè)
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:26cm
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讀者對(duì)象:本書(shū)可作為高等院校的微電子、集成電路相關(guān)專(zhuān)業(yè)課程教材, 也可供電子制造工程師閱讀參考

本書(shū)共9章, 主要內(nèi)容包括芯片封裝概論、微電子制造技術(shù)、芯片封裝材料、芯片封裝工藝、芯片與電路板裝配、先進(jìn)封裝技術(shù)、芯片封裝可靠性測(cè)試、封裝失效分析和芯片封裝技術(shù)應(yīng)用等。
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