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深度學(xué)習(xí)與目標(biāo)檢測(cè):工具、原理與算法

 深度學(xué)習(xí)與目標(biāo)檢測(cè):工具、原理與算法

定  價(jià):89 元

叢書(shū)名:智能系統(tǒng)與技術(shù)叢書(shū)

        

  • 作者:涂銘,金智勇
  • 出版時(shí)間:2021/9/1
  • ISBN:9787111690344
  • 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類(lèi):TP181 
  • 頁(yè)碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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內(nèi)容簡(jiǎn)介
這是一本從工具、原理、算法3個(gè)維度指導(dǎo)讀者零基礎(chǔ)快速掌握目標(biāo)檢測(cè)技術(shù)及其應(yīng)用的入門(mén)書(shū)。
兩位作者是資深的AI技術(shù)專(zhuān)家和計(jì)算機(jī)視覺(jué)算法專(zhuān)家,在阿里、騰訊、百度、三星等大企業(yè)從事計(jì)算機(jī)視覺(jué)相關(guān)的工作多年,不僅理論功底扎實(shí)、實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)豐富,而且知道初學(xué)者進(jìn)入計(jì)算機(jī)視覺(jué)領(lǐng)域的痛點(diǎn)和難點(diǎn)。據(jù)此,兩位作者編寫(xiě)了這本針對(duì)目標(biāo)檢測(cè)初學(xué)者的入門(mén)書(shū),希望從知識(shí)體系和工程實(shí)踐的角度幫助讀者少走彎路。
第1~2章是目標(biāo)檢測(cè)的準(zhǔn)備工作,主要介紹了目標(biāo)檢測(cè)的常識(shí)、深度學(xué)習(xí)框架的選型、開(kāi)發(fā)環(huán)境的搭建以及數(shù)據(jù)處理工具的使用。
第3~5章是目標(biāo)檢測(cè)的技術(shù)基礎(chǔ),主要講解了數(shù)據(jù)預(yù)處理和卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)等圖像分類(lèi)技術(shù)的基礎(chǔ)知識(shí)。
第6章比較詳細(xì)地介紹了香港中文大學(xué)的開(kāi)源算法庫(kù)mmdetection。
第7~10章詳細(xì)地講解了目標(biāo)檢測(cè)的概念、原理、一階段算法、二階段算法以及提升算法性能的常用方法。
第11章簡(jiǎn)單介紹了目標(biāo)檢測(cè)的相關(guān)案例(以工業(yè)為背景),以幫助讀者構(gòu)建一個(gè)更完整的知識(shí)體系。
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