目 錄 緒論10.1 電路與電子系統(tǒng)的復雜性10.2 電路與電子系統(tǒng)故障診斷的必要性20.3 電路與電子系統(tǒng)測試的特點20.3.1 模擬電路與系統(tǒng)測試的特點20.3.2 數(shù)字電路與系統(tǒng)測試的特點30.3.3 混合電路測試的特點40.4 本書主要內容4本章參考文獻6第1章 電子系統(tǒng)常用故障診斷方法71.1 常見故障診斷方法71.1.1 基于故障模型的診斷方法71.1.2 基于機器學習的診斷方法91.1.3 基于信號處理的方法101.1.4 基于解析模型的方法111.1.5 基于知識的故障診斷方法121.1.6 故障診斷方法的發(fā)展趨勢141.2 基于故障樹的故障診斷方法151.2.1 故障樹分析法中的基本概念和 符號161.2.2 故障樹的生成171.2.3 IEEE 1232的系統(tǒng)結構191.2.4 IEEE 1232模型文件191.2.5 IEEE 1232的推理機服務20本章參考文獻21第2章 數(shù)字電路測試與故障診斷222.1 數(shù)字電路測試方法概述222.1.1 數(shù)字電路測試的基本概念222.1.2 數(shù)字電路測試的必要性和復雜性222.1.3 數(shù)字電路測試的發(fā)展242.2 數(shù)字電路故障模型與測試252.2.1 故障及故障模型252.2.2 故障測試272.2.3 故障冗余292.3 數(shù)字電路測試的基本任務302.3.1 測試矢量的產生302.3.2 測試響應的觀測312.4 可測性與完備性322.4.1 可測性322.4.2 完備性322.5 復雜系統(tǒng)的分級測試332.5.1 子系統(tǒng)一級的測試332.5.2 微機系統(tǒng)的測試342.6 窮舉測試法342.6.1 單輸出無扇出電路352.6.2 帶匯聚扇出的單輸出電路382.6.3 各輸出不依賴于全部輸入的 多輸出電路402.7 故障表方法402.7.1 固定式列表計劃偵查412.7.2 固定計劃定位422.7.3 適應性計劃偵查和定位44習題47本章參考文獻48第3章 組合電路與時序電路的故障診斷503.1 通路敏化503.1.1 敏化通路503.1.2 通路敏化法513.1.3 關于一維敏化的討論533.1.4 多維敏化553.2 d算法563.2.1 d算法的基礎知識563.2.2 d算法的基本步驟583.2.3 d算法舉例583.2.4 擴展d算法633.3 布爾差分法683.3.1 布爾差分的基本概念683.3.2 布爾差分的特性693.3.3 求布爾差分的方法703.3.4 單故障的測試733.3.5 多重故障的測試763.4 故障字典783.5 時序邏輯電路的測試783.6 迭接電路法793.6.1 基本思想793.6.2 同步時序電路的組合迭接803.6.3 異步時序電路的組合迭接823.7 狀態(tài)變遷檢查法853.7.1 初始狀態(tài)的設置853.7.2 狀態(tài)的識別883.7.3 故障的測試883.7.4 區(qū)分序列的存在性89習題91第4章 模擬電路與混合信號的故障診斷924.1 模擬電路測試的復雜性924.1.1 模擬電路故障診斷概述924.1.2 模擬電路故障診斷技術的產生924.1.3 模擬電路故障特點934.1.4 故障診斷是網(wǎng)絡理論的一個重要 分支934.2 模擬電路的故障模型944.3 模擬電路的故障診斷方法954.3.1 傳統(tǒng)的故障診斷方法964.3.2 目前的故障診斷方法964.3.3 發(fā)展中的新故障測試方法974.4 故障字典法994.4.1 直流域中字典的建立994.4.2 頻域中字典的建立1034.4.3 時域中字典的建立1074.4.4 故障的識別與分辨1104.5 混合信號測試概述1124.5.1 混合信號的發(fā)展1124.5.2 混合信號測試面臨的挑戰(zhàn)1124.5.3 混合信號的基本測試方法1134.5.4 混合信號測試的展望1144.6 數(shù)模/模數(shù)轉換器簡介1154.6.1 數(shù)模轉換器1154.6.2 模數(shù)轉換器1184.7 混合信號測試總線1244.7.1 IEEE 1149.4電路結構1244.7.2 IEEE 1149.4測試方法1264.7.3 IEEE 1149.4標準指令126本章參考文獻128第5章 電路板維修技術1305.1 維修前的準備1305.1.1 維修設備和工具1305.1.2 安全技術1305.1.3 感官訓練1315.2 檢修技術和方法1315.2.1 電路檢修原則1315.2.2 具體電路問題及故障處理順序1325.2.3 故障維修方法1325.2.4 小結145第6章 微機系統(tǒng)的故障診斷1476.1 存儲器的測試1476.1.1 RAM中的故障類型1486.1.2 測試的若干原則性考慮1496.1.3 存儲器測試方法1506.1.4 各種測試方法的比較1556.2 ROM的測試方法1566.3 微處理器的測試1576.3.1 ?P的算法產生測試1586.3.2 ?P功能性測試的一般方法1616.3.3 ?P功能性測試的系統(tǒng)圖方法1666.4 利用被測系統(tǒng)的應用程序進行測試1686.4.1 基本概念1686.4.2 應用程序的模型化1686.4.3 關系圖1706.4.4 測試的組織1726.4.5 通路測試的算法174習題177本章參考文獻177第7章 可測性設計1787.1 可測性設計的概念1787.1.1 可靠性的定義1787.1.2 可靠性的主要參數(shù)指標1797.1.3 可測性設計的提出1797.2 可測性設計的發(fā)展1807.2.1 可測性的起源與發(fā)展過程1807.2.2 國內情況1817.2.3 關鍵的技術1827.2.4 國際標準1837.2.5 可測性設計發(fā)展趨勢1857.3 可測性的測度1867.3.1 基本定義1867.3.2 標準單元的可測性分析1887.3.3 可控性和可觀測性的計算1907.4 可測性設計方法1917.5 內建自測試設計1947.5.1 多位線性反饋移位寄存器1957.5.2 偽隨機數(shù)發(fā)生器1977.5.3 特征分析器1987.5.4 內建自測試電路設計2007.6 邊界掃描技術2027.6.1 JTAG邊緣掃描可測性設計 的結構2037.6.2 工作方式2057.6.3 邊緣掃描單元的級聯(lián)2067.6.4 JTAG的指令2077.6.5 JTAG應用舉例2087.6.6 JTAG的特點210本章參考文獻210第8章 網(wǎng)絡化測試儀器2128.1 分布式自動測試系統(tǒng)2128.1.1 分布式系統(tǒng)概述2128.1.2 分布式系統(tǒng)結構及其特點2138.1.3 分布式系統(tǒng)的優(yōu)勢2148.1.4 分布式自動測試系統(tǒng)2158.2 網(wǎng)絡化測試儀器2178.2.1 網(wǎng)絡化測試儀器概述2178.2.2 網(wǎng)絡化測試儀器設計規(guī)范2178.3 LXI總線測試儀器2338.3.1 LXI總線的發(fā)展2338.3.2 LXI測試儀器的基本特性2338.3.3 LXI測試儀器的分類2358.3.4 LXI測試儀器的結構與電氣 特性2388.3.5 LXI測試儀器的網(wǎng)絡設置 與通信2428.3.6 LXI測試儀器的觸發(fā)與同步2478.3.7 LXI測試儀器IVI驅動接口設計 方法250本章參考文獻253第9章 面向信號的自動測試系統(tǒng)2549.1 自動測試系統(tǒng)概述及發(fā)展2549.1.1 自動測試系統(tǒng)的框架結構2549.1.2 自動測試系統(tǒng)的提出與發(fā)展2559.1.3 面向信號自動測試系統(tǒng)2579.1.4 面向信號的自動測試系統(tǒng)的 技術框架2589.2 IEEE 1641協(xié)議2609.2.1 IEEE 1641的提出2609.2.2 信號的層次結構2619.2.3 IEEE 1641標準的不足2639.3 ATML標準2639.3.1 XML標記語言2639.3.2 ATML標準2649.3.3 協(xié)議與自動測試系統(tǒng)各部分 的關系2659.4 IVI技術2669.4.1 可互換虛擬儀器技術2669.4.2 IVI技術2679.4.3 IVIsignal2699.5 自動測試系統(tǒng)應用2709.5.1 自動測試系統(tǒng)的軟件結構2709.5.2 測試過程272本章參考文獻272