第1章 緒論
1.1 引言
1.1.1 數(shù)字化測試技術的基本概念
1.1.2 數(shù)字化測試技術的重要地位
1.1.3 數(shù)字化測試技術的起源和發(fā)展
1.1.4 數(shù)字測試儀表的特點
1.2 數(shù)字化測試技術的現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢
1.2.1 現(xiàn)狀
1.2.2 數(shù)字化測試技術的發(fā)展趨勢
1.3 數(shù)字化測試系統(tǒng)組建的基本框架
1.4 數(shù)字化測試技術涉及的核心問題
1.4.1 測試中激勵信號（信號源）的產生
1.4.2 被測信號數(shù)字化處理
1.5 與被測對象相關的測試信號接口
1.5.1 總線和接口簡述
1.5.2 接口標準分類
1.5.3 測試儀器的主要通信接口
習題
參考文獻
第2章 數(shù)字化測試理論與技術基礎
2.1 歸一化頻譜與測試采樣
2.1.1 信號
2.1.2 信號的基本運算
2.1.3 連續(xù)時間信號采樣
2.1.4 系統(tǒng)
2.2 數(shù)字頻譜在測試中的應用
2.2.1 傅里葉表示
2.2.2 卷積
2.2.3 快速離散傅里葉變換
2.3 數(shù)字濾波在測試中的應用
2.3.1 簡介
2.3.2 IIR的設計方法
2.3.3 FIR設計
2.3.4 濾波器的使用
2.3.5 信號濾波技術
2.4 測試中的實時信號處理
2.4.1 信號分析與處理問題概述
2.4.2 動態(tài)信號的時域參數(shù)提取
2.4.3 動態(tài)信號的頻譜分析
2.5 測試中的自適應信號處理
習題
參考文獻
第3章 現(xiàn)代數(shù)據采集技術及應用
3.1 數(shù)據采集技術綜述
3.2 現(xiàn)代數(shù)據采集系統(tǒng)
3.2.1 概述
3.2.2 數(shù)據采集原理
3.2.3 數(shù)據采集系統(tǒng)結構組成
3.2.4 數(shù)據采集系統(tǒng)的主要性能指標
3.2.5 數(shù)據采集系統(tǒng)的發(fā)展方向
3.3 測試信號模擬前端
3.3.1 模擬前端的結構組成
3.3.2 傳感器技術
3.3.3 隔離電路
3.3.4 模擬多路開關
3.3.5 測量放大器
3.3.6 模擬濾波器
3.4 現(xiàn)代模／數(shù)(A/D)轉換器
3.4.1 A/D轉換器分類
3.4.2 幾種典型A/D轉換器的原理和特點
3.4.3 評價A/D轉換器性能的關鍵指標
3.4.4 A/D轉換器的選擇和使用
3.4.5 A/D轉換器與CPU的接口設計問題
3.5 存儲系統(tǒng)
3.5.1 存儲器概述
3.5.2 半導體存儲器
3.5.3 存儲器與CPU的連接
……
第4章 DSP系統(tǒng)設計與應用
第5章 數(shù)字化測試系統(tǒng)EDA設計
第6章 測試信號接入、傳輸與總線技術