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互換性與測(cè)量技術(shù)

互換性與測(cè)量技術(shù)

定  價(jià):26 元

        

  • 作者:主編劉衛(wèi)勝
  • 出版時(shí)間:2015/9/1
  • ISBN:9787111512141
  • 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TG801 
  • 頁碼:186
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16K
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  《互換性與測(cè)量技術(shù)》系統(tǒng)地論述了互換性與技術(shù)測(cè)量的基本知識(shí),分析介紹了我國(guó)公差與配合方面的新標(biāo)準(zhǔn),闡述了技術(shù)測(cè)量的基本原理,反映了一些新的測(cè)試技術(shù)。主要內(nèi)容包括緒言、孔與軸的極限與配合、長(zhǎng)度測(cè)量基礎(chǔ)、幾何公差及檢測(cè)、表面粗糙度及檢測(cè)、光滑極限量規(guī)、滾動(dòng)軸承的公差與配合、尺寸鏈、圓錐的公差配合及檢測(cè)、螺紋公差及檢測(cè)、鍵和花鍵的公差與配合、漸開線圓柱齒輪精度及檢驗(yàn)等。書后附有各章練習(xí)題,供讀者復(fù)習(xí)和鞏固知識(shí)。
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