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公差配合與幾何測(cè)量檢測(cè)技術(shù)

公差配合與幾何測(cè)量檢測(cè)技術(shù)

定  價(jià):22 元

叢書(shū)名: 高職高專規(guī)劃教材

        

  • 作者:主編朱紅
  • 出版時(shí)間:2015/3/1
  • ISBN:9787111492184
  • 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TG801 
  • 頁(yè)碼:148
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16K
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《公差配合與幾何測(cè)量檢測(cè)技術(shù)/高職高專規(guī)劃教材》由緒論、基礎(chǔ)知識(shí)和知識(shí)應(yīng)用三大部分組成,每個(gè)部分的內(nèi)容既相互聯(lián)系又各自獨(dú)立,內(nèi)容包括:公差測(cè)量技術(shù)概述、尺寸公差、長(zhǎng)度測(cè)量、幾何公差與檢測(cè)、表面粗糙度的測(cè)量、滾動(dòng)軸承的公差與配合、鍵的公差配合、及螺紋公差配合與檢測(cè)等。重點(diǎn)介紹了各類公差選擇、標(biāo)注、查表與解釋,以及幾何量的常見(jiàn)檢測(cè)方法和數(shù)據(jù)處理。
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