《普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材:現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)》側(cè)重于把各種光學(xué)測(cè)試技術(shù)與CCD等現(xiàn)代探測(cè)器、EALCD空間光調(diào)制器和計(jì)算機(jī)技術(shù)相結(jié)合,故所討論的方法具有實(shí)時(shí)化、自動(dòng)化和數(shù)字化特點(diǎn)。為了提高測(cè)試精度,《普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材:現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)》中引入了數(shù)字圖像處理算法,并把各種算法,包括傅里葉變換、小波變換、拉普拉斯、綜合識(shí)別函數(shù)等成功地應(yīng)用于相關(guān)探測(cè)、全息測(cè)試、散斑測(cè)試等中,使光學(xué)、專業(yè)數(shù)學(xué)和計(jì)算機(jī)學(xué)相結(jié)合。本書中的許多測(cè)試實(shí)例是作者科研團(tuán)隊(duì)和國(guó)內(nèi)外許多專家的科研成果,故本書將理論與測(cè)試實(shí)踐緊密結(jié)合,所討論的方法具有實(shí)用性和先進(jìn)性。全書的章、節(jié)、目、圖和專業(yè)詞匯均用英語標(biāo)出,且每章均給出英語專業(yè)詞匯列表,以利于雙語教學(xué)和文獻(xiàn)查閱。
全書共分十章,內(nèi)容包括:干涉測(cè)試基礎(chǔ),單頻干涉術(shù),雙頻干涉術(shù),莫爾干涉術(shù),全息術(shù),全息干涉術(shù),全信息測(cè)量技術(shù),散斑干涉術(shù),光學(xué)相關(guān)測(cè)試技術(shù),光源、記錄介質(zhì)和探測(cè)器。每章末均附有習(xí)題。
《普通高等教育“十二五”規(guī)劃教材:現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)》主要適用于光電信息工程、精密儀器與測(cè)試專業(yè)的本科生和研究生,同時(shí)也可供相關(guān)科研工作者參考。
(Preface)
第1章 干涉測(cè)試基礎(chǔ)(Chapter 1Foundation of Interference Testing)
1.1 干涉與干涉術(shù)(Interference and Interferometry)
1.2 基本關(guān)系式(Basic Relations)
1.3 干涉條紋的特性(Characteristics of Interference Fringes)
1.4 不同頻率的單色平面波的干涉( Interference of Monochromatic Plane Wave withDifferent Frequency)
1.5 球面波的干涉(Interference of Spherical Wave)
1.6 光源的相干性[9~11](Coherence of Light Source)
1.7 對(duì)干涉儀元件的一般要求[12](General Requirements for InterferometerElements)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第2章 單頻干涉術(shù)(Chapter 2Mono?frequency Interferometry)
2.1 干涉儀及其分類(Interferometer and Classification)
2.2 波前形狀的研究(Researching of Wavefront Shape)
前言(Preface)
第1章 干涉測(cè)試基礎(chǔ)(Chapter 1Foundation of Interference Testing)
1.1 干涉與干涉術(shù)(Interference and Interferometry)
1.2 基本關(guān)系式(Basic Relations)
1.3 干涉條紋的特性(Characteristics of Interference Fringes)
1.4 不同頻率的單色平面波的干涉( Interference of Monochromatic Plane Wave withDifferent Frequency)
1.5 球面波的干涉(Interference of Spherical Wave)
1.6 光源的相干性[9~11](Coherence of Light Source)
1.7 對(duì)干涉儀元件的一般要求[12](General Requirements for InterferometerElements)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第2章 單頻干涉術(shù)(Chapter 2Mono?frequency Interferometry)
2.1 干涉儀及其分類(Interferometer and Classification)
2.2 波前形狀的研究(Researching of Wavefront Shape)
2.3 米基準(zhǔn)的測(cè)定\[2~4\](Measurement of Meter Benchmark)
2.4 長(zhǎng)度測(cè)量(Measurement of Length)
2.5 位移測(cè)量(Displacement Measurement)
2.6 CCD?微機(jī)系統(tǒng)在干涉測(cè)長(zhǎng)中的應(yīng)用\[5,6\](Application of CCD?computer System inInterference Length Measurement)
2.7 波面位相自動(dòng)探測(cè)技術(shù)(Automatic Detection Technology of Wave FrontPhase)
2.8 平行平板的楔度測(cè)量(Wedge Angle Measurement of Plane ParallelPlate)
2.9 小角度測(cè)量和介質(zhì)折射率測(cè)量[16](Measurement of Small Angle and RefractiveIndex)
2.10 激光波長(zhǎng)測(cè)量\[17\](Measurement of Laser Wavelength)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第3章 雙頻干涉術(shù)(Chapter 3Double Frequency Interferometry)
3.1 雙頻干涉術(shù)(Double Frequency Interferometry)
3.2 光頻調(diào)制技術(shù)(Light frequency Modulation Technology)
3.3 激光外差干涉儀\[6~9\](Laser Heterodyne Interferometer)
3.4 外差偏振測(cè)距干涉儀\[10,11\](Polarizing Heterodyne Range FindingInterferometer)
3.5 實(shí)時(shí)外差干涉儀\[12\](Real?time Heterodyne Interferometer)
3.6 空氣折射率的測(cè)定\[13,14\](Refractive Index Measurement of Air)
3.7 微振動(dòng)和角度測(cè)量(Measurement of Micro?vibration and Angle)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第4章 莫爾干涉術(shù)(Chapter 4Moire Interferometry)
4.1 莫爾干涉測(cè)量原理(Measurement Principle of Moire Interference)
4.2 莫爾干涉術(shù)測(cè)位移(Displacement Measurement with MoireInterferometry)
4.3 莫爾干涉術(shù)測(cè)面形(Surface Contour Measurement with MoireInterferometry)
4.4 莫爾干涉術(shù)測(cè)變形和振動(dòng)(Measurement of Deformation and Vibration withMoire Interferometry)
4.5 莫爾干涉術(shù)測(cè)流體折射率及其梯度(Refractive Index and Gradient Measurement ofFluid with Moire Interferometry)
4.6 外差莫爾干涉術(shù)測(cè)平面度\[15\](Flatness Measurement with Heterodyne MoireInterferometry)
4.7 莫爾條紋的自動(dòng)處理\[16,17\](Automatic Processing of MoireFringes)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第5章 全息術(shù)(Chapter 5Holography)
5.1 全息術(shù)原理(Holographic Principle)
5.2 全息圖的記錄、存儲(chǔ)和重現(xiàn)(Record, Storage and Reconstruction ofHologram)
5.3 全息圖的分類(Classification of Hologram)
5.4 全息圖的基本性質(zhì)(Basic Characteristics of Hologram)
5.5 數(shù)字全息記錄與重建原理[5~9](Principle of Digital Holographic Recordingand Reconstruction)
5.6 全息術(shù)的應(yīng)用(Holographic Application)
5.7 實(shí)驗(yàn)中注意的問題(Notice in Experiments)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第6章 全息干涉術(shù)(Chapter 6Holographic Interferometry)
6.1 全息干涉術(shù)原理(Principle of Holographic Interferometry)
6.2 全息干涉術(shù)的特征(Characters of Holographic Interferometry)
6.3 實(shí)時(shí)全息干涉術(shù)(Real?Time Holographic Interferometry)
6.4 雙曝光干涉術(shù)(Double Exposure Holographic Interferometry)
6.5 時(shí)間平均全息干涉術(shù)(Time?average Holographic Interferometry)
6.6 頻閃照明全息干涉術(shù)(Holographic Interferometry with StroboscopicIllumination)
6.7 全息等高線術(shù)(Holographic Contour Method)
6.8 反射照明全息圖的計(jì)算(Calculation of Reflective IlluminationHologram)
6.9 數(shù)字全息干涉術(shù)(Digital Holographic Interferometry)
6.10 全息干涉術(shù)的應(yīng)用(Application of Holographic Interferometry)
6.11 計(jì)算全息圖檢驗(yàn)非球面(Aspheric Surface Testing by Computer?generatedHologram)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第7章全信息測(cè)量技術(shù)(Chapter 7All Information Measurement Technology)
7.1 自動(dòng)處理全息圖(Automatic Processing Hologram)
7.2 實(shí)時(shí)全息干涉術(shù)的全信息測(cè)量(All information Measurement of Real?timeHolographic Interferometry)
7.3 雙曝光全息干涉術(shù)的全信息測(cè)量(All Information Measurement of Double?exposureHolographic Interferometry)
7.4 全信息測(cè)量的光學(xué)系統(tǒng)(Optical System of All InformationMeasurement)
7.5 電學(xué)系統(tǒng)與自控技術(shù)(Electrical System and Auto?control Technology)
7.6 表面變形的全信息測(cè)量(All Information Measurement of DeformedSurface)
7.7 膠體硬化時(shí)厚度變化的全信息測(cè)量\[12\](All Information Measurement of ThicknessChanging under Adhesive Shrinking)
7.8 基于EALCD的數(shù)字全息干涉術(shù)\[14\](Digital Holographic Interferometry Basedon EALCD)
7.9 四步數(shù)字相移全息干涉術(shù)三維變形測(cè)量\[17,18\](3D Deformation Measurement Based onFour?step Digital Phase Shifting)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第8章散斑干涉術(shù)(Chapter 8Speckle Interferometry)
8.1 散斑計(jì)量學(xué)的發(fā)展歷程(Development Course of Speckle Metrology)
8.2 散斑及其特性(Speckle and Its Characteristics)
8.3 數(shù)字散斑照相術(shù)(Digital Speckle Photography)
8.4 數(shù)字散斑干涉術(shù)測(cè)物面形變(Digital Speckle Interferometry for DeformationMeasurement)
8.5 數(shù)字散斑相關(guān)技術(shù)(Digital Speckle Correlation Technique)
8.6 剪切散斑干涉術(shù)(Shearing Speckle Interferometry)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第9章光學(xué)相關(guān)測(cè)試技術(shù)(Chapter 9Optical Correlation Test Technology)
9.1 光學(xué)信息處理技術(shù)(Technology of Optical Information Processing)
9.2 傅里葉變換原理(Principle of Fourier Transform)
9.3 范德爾?盧格特(Vander?lugt)相關(guān)器(Vander?lugt Correlator)
9.4 實(shí)時(shí)聯(lián)合變換相關(guān)器(Real?time Joint Transform Correlator)
9.5 基于實(shí)時(shí)聯(lián)合變換相關(guān)器的濾波技術(shù)(Filtering Technique Based on Real?time JointTransform Correlator)
9.6 畸變不變目標(biāo)識(shí)別技術(shù)(Distortion Invariant Target RecognitionTechnology)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第10章光源、記錄介質(zhì)和探測(cè)器(Chapter 10Light Source, Recording Material andDetector)
10.1 全息干涉對(duì)光源的要求(The Requirements for Light Source of HolographicInterference)
10.2 激光光源(Laser Light Source)
10.3 對(duì)全息記錄材料的要求(The Requirements for Recording Materials inHolography)
10.4 鹵化銀照相乳膠(Halogenating Silver Photographic Emulsion)
10.5 光導(dǎo)熱塑料\[8\](Photoconductor Thermoplastic Film)
10.6 硅酸鉍晶體\[9,10\](BSO Crystal)
10.7 電視攝像機(jī)(Television Camera)
10.8 固體圖像傳感器\[13,14\](Solid Image Sensor)
10.9 空間光調(diào)制器(Spatial Light Modulator)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
前言(Preface)
第1章 干涉測(cè)試基礎(chǔ)(Chapter 1Foundation of Interference Testing)
1.1 干涉與干涉術(shù)(Interference and Interferometry)
1.2 基本關(guān)系式(Basic Relations)
1.3 干涉條紋的特性(Characteristics of Interference Fringes)
1.4 不同頻率的單色平面波的干涉( Interference of Monochromatic Plane Wave withDifferent Frequency)
1.5 球面波的干涉(Interference of Spherical Wave)
1.6 光源的相干性[9~11](Coherence of Light Source)
1.7 對(duì)干涉儀元件的一般要求[12](General Requirements for InterferometerElements)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第2章 單頻干涉術(shù)(Chapter 2Mono?frequency Interferometry)
2.1 干涉儀及其分類(Interferometer and Classification)
2.2 波前形狀的研究(Researching of Wavefront Shape)
前言(Preface)
第1章 干涉測(cè)試基礎(chǔ)(Chapter 1Foundation of Interference Testing)
1.1 干涉與干涉術(shù)(Interference and Interferometry)
1.2 基本關(guān)系式(Basic Relations)
1.3 干涉條紋的特性(Characteristics of Interference Fringes)
1.4 不同頻率的單色平面波的干涉( Interference of Monochromatic Plane Wave withDifferent Frequency)
1.5 球面波的干涉(Interference of Spherical Wave)
1.6 光源的相干性[9~11](Coherence of Light Source)
1.7 對(duì)干涉儀元件的一般要求[12](General Requirements for InterferometerElements)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第2章 單頻干涉術(shù)(Chapter 2Mono?frequency Interferometry)
2.1 干涉儀及其分類(Interferometer and Classification)
2.2 波前形狀的研究(Researching of Wavefront Shape)
2.3 米基準(zhǔn)的測(cè)定\[2~4\](Measurement of Meter Benchmark)
2.4 長(zhǎng)度測(cè)量(Measurement of Length)
2.5 位移測(cè)量(Displacement Measurement)
2.6 CCD?微機(jī)系統(tǒng)在干涉測(cè)長(zhǎng)中的應(yīng)用\[5,6\](Application of CCD?computer System inInterference Length Measurement)
2.7 波面位相自動(dòng)探測(cè)技術(shù)(Automatic Detection Technology of Wave FrontPhase)
2.8 平行平板的楔度測(cè)量(Wedge Angle Measurement of Plane ParallelPlate)
2.9 小角度測(cè)量和介質(zhì)折射率測(cè)量[16](Measurement of Small Angle and RefractiveIndex)
2.10 激光波長(zhǎng)測(cè)量\[17\](Measurement of Laser Wavelength)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第3章 雙頻干涉術(shù)(Chapter 3Double Frequency Interferometry)
3.1 雙頻干涉術(shù)(Double Frequency Interferometry)
3.2 光頻調(diào)制技術(shù)(Light frequency Modulation Technology)
3.3 激光外差干涉儀\[6~9\](Laser Heterodyne Interferometer)
3.4 外差偏振測(cè)距干涉儀\[10,11\](Polarizing Heterodyne Range FindingInterferometer)
3.5 實(shí)時(shí)外差干涉儀\[12\](Real?time Heterodyne Interferometer)
3.6 空氣折射率的測(cè)定\[13,14\](Refractive Index Measurement of Air)
3.7 微振動(dòng)和角度測(cè)量(Measurement of Micro?vibration and Angle)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第4章 莫爾干涉術(shù)(Chapter 4Moire Interferometry)
4.1 莫爾干涉測(cè)量原理(Measurement Principle of Moire Interference)
4.2 莫爾干涉術(shù)測(cè)位移(Displacement Measurement with MoireInterferometry)
4.3 莫爾干涉術(shù)測(cè)面形(Surface Contour Measurement with MoireInterferometry)
4.4 莫爾干涉術(shù)測(cè)變形和振動(dòng)(Measurement of Deformation and Vibration withMoire Interferometry)
4.5 莫爾干涉術(shù)測(cè)流體折射率及其梯度(Refractive Index and Gradient Measurement ofFluid with Moire Interferometry)
4.6 外差莫爾干涉術(shù)測(cè)平面度\[15\](Flatness Measurement with Heterodyne MoireInterferometry)
4.7 莫爾條紋的自動(dòng)處理\[16,17\](Automatic Processing of MoireFringes)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第5章 全息術(shù)(Chapter 5Holography)
5.1 全息術(shù)原理(Holographic Principle)
5.2 全息圖的記錄、存儲(chǔ)和重現(xiàn)(Record, Storage and Reconstruction ofHologram)
5.3 全息圖的分類(Classification of Hologram)
5.4 全息圖的基本性質(zhì)(Basic Characteristics of Hologram)
5.5 數(shù)字全息記錄與重建原理[5~9](Principle of Digital Holographic Recordingand Reconstruction)
5.6 全息術(shù)的應(yīng)用(Holographic Application)
5.7 實(shí)驗(yàn)中注意的問題(Notice in Experiments)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第6章 全息干涉術(shù)(Chapter 6Holographic Interferometry)
6.1 全息干涉術(shù)原理(Principle of Holographic Interferometry)
6.2 全息干涉術(shù)的特征(Characters of Holographic Interferometry)
6.3 實(shí)時(shí)全息干涉術(shù)(Real?Time Holographic Interferometry)
6.4 雙曝光干涉術(shù)(Double Exposure Holographic Interferometry)
6.5 時(shí)間平均全息干涉術(shù)(Time?average Holographic Interferometry)
6.6 頻閃照明全息干涉術(shù)(Holographic Interferometry with StroboscopicIllumination)
6.7 全息等高線術(shù)(Holographic Contour Method)
6.8 反射照明全息圖的計(jì)算(Calculation of Reflective IlluminationHologram)
6.9 數(shù)字全息干涉術(shù)(Digital Holographic Interferometry)
6.10 全息干涉術(shù)的應(yīng)用(Application of Holographic Interferometry)
6.11 計(jì)算全息圖檢驗(yàn)非球面(Aspheric Surface Testing by Computer?generatedHologram)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第7章全信息測(cè)量技術(shù)(Chapter 7All Information Measurement Technology)
7.1 自動(dòng)處理全息圖(Automatic Processing Hologram)
7.2 實(shí)時(shí)全息干涉術(shù)的全信息測(cè)量(All information Measurement of Real?timeHolographic Interferometry)
7.3 雙曝光全息干涉術(shù)的全信息測(cè)量(All Information Measurement of Double?exposureHolographic Interferometry)
7.4 全信息測(cè)量的光學(xué)系統(tǒng)(Optical System of All InformationMeasurement)
7.5 電學(xué)系統(tǒng)與自控技術(shù)(Electrical System and Auto?control Technology)
7.6 表面變形的全信息測(cè)量(All Information Measurement of DeformedSurface)
7.7 膠體硬化時(shí)厚度變化的全信息測(cè)量\[12\](All Information Measurement of ThicknessChanging under Adhesive Shrinking)
7.8 基于EALCD的數(shù)字全息干涉術(shù)\[14\](Digital Holographic Interferometry Basedon EALCD)
7.9 四步數(shù)字相移全息干涉術(shù)三維變形測(cè)量\[17,18\](3D Deformation Measurement Based onFour?step Digital Phase Shifting)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第8章散斑干涉術(shù)(Chapter 8Speckle Interferometry)
8.1 散斑計(jì)量學(xué)的發(fā)展歷程(Development Course of Speckle Metrology)
8.2 散斑及其特性(Speckle and Its Characteristics)
8.3 數(shù)字散斑照相術(shù)(Digital Speckle Photography)
8.4 數(shù)字散斑干涉術(shù)測(cè)物面形變(Digital Speckle Interferometry for DeformationMeasurement)
8.5 數(shù)字散斑相關(guān)技術(shù)(Digital Speckle Correlation Technique)
8.6 剪切散斑干涉術(shù)(Shearing Speckle Interferometry)
本章習(xí)題(Exercises)
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第9章光學(xué)相關(guān)測(cè)試技術(shù)(Chapter 9Optical Correlation Test Technology)
9.1 光學(xué)信息處理技術(shù)(Technology of Optical Information Processing)
9.2 傅里葉變換原理(Principle of Fourier Transform)
9.3 范德爾?盧格特(Vander?lugt)相關(guān)器(Vander?lugt Correlator)
9.4 實(shí)時(shí)聯(lián)合變換相關(guān)器(Real?time Joint Transform Correlator)
9.5 基于實(shí)時(shí)聯(lián)合變換相關(guān)器的濾波技術(shù)(Filtering Technique Based on Real?time JointTransform Correlator)
9.6 畸變不變目標(biāo)識(shí)別技術(shù)(Distortion Invariant Target RecognitionTechnology)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)
第10章光源、記錄介質(zhì)和探測(cè)器(Chapter 10Light Source, Recording Material andDetector)
10.1 全息干涉對(duì)光源的要求(The Requirements for Light Source of HolographicInterference)
10.2 激光光源(Laser Light Source)
10.3 對(duì)全息記錄材料的要求(The Requirements for Recording Materials inHolography)
10.4 鹵化銀照相乳膠(Halogenating Silver Photographic Emulsion)
10.5 光導(dǎo)熱塑料\[8\](Photoconductor Thermoplastic Film)
10.6 硅酸鉍晶體\[9,10\](BSO Crystal)
10.7 電視攝像機(jī)(Television Camera)
10.8 固體圖像傳感器\[13,14\](Solid Image Sensor)
10.9 空間光調(diào)制器(Spatial Light Modulator)
本章習(xí)題(Exercises)
本章術(shù)語(Terminologies)
參考文獻(xiàn)(References)