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微米納米器件測試技術(shù)

微米納米器件測試技術(shù)

定  價:88 元

叢書名:微米納米技術(shù)叢書

        

  • 作者:張文棟等編著
  • 出版時間:2012/1/1
  • ISBN:9787118078978
  • 出 版 社:國防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN4 
  • 頁碼:279
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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  《微米納米器件測試技術(shù)》在總結(jié)國家“863”計劃項目和國家自然基金(重點基金)項目研究成果的基礎(chǔ)上匯編而成,系統(tǒng)介紹了微米納米結(jié)構(gòu)和器件的幾何量、形貌測試表征方法以及微米納米器件的動態(tài)特性、在線測試方法等,將一些最新觀點、最新成果涵蓋其中。本書可作為儀器科學(xué)與技術(shù)學(xué)科以及相關(guān)學(xué)科專業(yè)研究生的基礎(chǔ)課程講義,主要目的是使學(xué)生對微米納米器件測試技術(shù)的基本知識有一個比較系統(tǒng)、全面的了解和認(rèn)識,培養(yǎng)他們對微米納米相關(guān)學(xué)科的興趣,為初學(xué)者提供一個微米納米器件測試?yán)碚搶W(xué)習(xí)的平臺。
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