先進VLSI技術(shù):中后端面試精選455問
定 價:68 元
叢書名:數(shù)字IC設(shè)計工程師叢書
- 作者:慕意豪
- 出版時間:2025/1/1
- ISBN:9787030800121
- 出 版 社:科學出版社
- 中圖法分類:TN47
- 頁碼:172
- 紙張:
- 版次:1
- 開本:16
本書詳細介紹VLSI設(shè)計和制造的基本原理,內(nèi)容涵蓋VLSI設(shè)計中的多個關(guān)鍵領(lǐng)域,如靜態(tài)時序分析、CMOS設(shè)計和布局、物理設(shè)計自動化、VLSI電路測試,以及FPGA原型設(shè)計和ASIC設(shè)計中使用的工具。章末附有中端和后端面試經(jīng)典問題及解答,可幫助讀者更好地理解和應(yīng)用VLSI設(shè)計知識。
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2021年獲得山東大學微電子科學與工程專業(yè)學士學位;2022年獲得新加坡南洋理工大學電子學碩士學位上海市壁仞智能科技有限公司電子學擁有《基于單片機的多功能聲光喚醒床用配件》、《用于哈希運算的裝置和復位方法》等9項專利,曾在我社翻譯《數(shù)字設(shè)計技術(shù)與解析》無
目錄
第?1?章 靜態(tài)時序分析 1
1.1 時序組件 2
1.2 串擾 5
1.3 靜態(tài)時序分析 6
1.4 單調(diào)性及其類型 6
1.5 問題與解答 7
參考文獻 32
第?2?章 CMOS設(shè)計和布局 33
2.1 引言 34
2.2 CMOS設(shè)計流程 35
2.3 棍棒圖 35
2.4 設(shè)計規(guī)則 37
2.5 布局設(shè)計規(guī)則 44
2.6 問題與解答 46
參考文獻 58
第?3?章 物理設(shè)計自動化 59
3.1 介紹 60
3.2 物理設(shè)計自動化的單元類型 60
3.3 問題與解答 62
參考文獻 80
第?4?章 VLSI電路測試 81
4.1 介 紹 82
4.2 電路測試 82
4.3 問題與解答 84
參考文獻 96
第?5?章 雜項 97
5.1 電子學分支 98
5.2 問題與解答 99
參考文獻 167
附錄 169
附錄A 數(shù)字IC型號 170
附錄B Verilog HDL中使用的關(guān)鍵字、系統(tǒng)任務(wù)和編譯指令列表 171