關(guān)于我們
書單推薦
新書推薦

敏感性試驗的優(yōu)化設(shè)計及參數(shù)估計

敏感性試驗的優(yōu)化設(shè)計及參數(shù)估計

定  價:88 元

        

  • 作者:田玉斌
  • 出版時間:2024/6/1
  • ISBN:9787030767806
  • 出 版 社:科學出版社
  • 中圖法分類:O212.6 
  • 頁碼:190
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:B5
9
7
7
8
6
7
7
0
8
3
0
0
6

讀者對象:敏感性試驗設(shè)計方向研究生、青年教師 敏感性試驗設(shè)計工程師(包含關(guān)于燃爆產(chǎn)品試驗的敏感性試驗設(shè)計、以及關(guān)于藥劑有效性和毒性試驗的敏感性試驗設(shè)計)

敏感性試驗設(shè)計是試驗設(shè)計研究領(lǐng)域的主要研究方向之一,其應(yīng)用背景主要是針對燃爆產(chǎn)品試驗和藥劑試驗,通過設(shè)計若干刺激水平和觀測對應(yīng)的二元響應(yīng)數(shù)據(jù),估計感興趣的特殊刺激水平,如成功響應(yīng)概率p對應(yīng)的刺激水平,稱其為感度分布的p分位數(shù)。 傳統(tǒng)的敏感性試驗設(shè)計沒有優(yōu)化準則,而且希望估計的主要是0.5分位數(shù)。隨著對研究對象更高質(zhì)量的要求,在中小樣本下估計極端p分位數(shù)的需求越來越強烈。本專著主要給出估計該類極端p分位數(shù)的優(yōu)化試驗設(shè)計方法,并在三元響應(yīng)和混合響應(yīng)情形下給出廣義敏感性試驗設(shè)計的概念、統(tǒng)計模型和廣義p分位數(shù)的表達式。進一步給出估計廣義p分位數(shù)的優(yōu)化試驗設(shè)計方法。 為了方便使用者,本專著還將給出各種方法的R程序,并展示具體應(yīng)用實例。

更多科學出版社服務(wù),請掃碼獲取。
 你還可能感興趣
 我要評論
您的姓名   驗證碼: 圖片看不清?點擊重新得到驗證碼
留言內(nèi)容