普通高等教育化學(xué)類專業(yè)規(guī)劃教材·國(guó)家級(jí)精品課程配套教材:結(jié)晶化學(xué)
定 價(jià):38 元
叢書(shū)名:化學(xué)與應(yīng)用化學(xué)叢書(shū)
- 作者:林樹(shù)坤
- 出版時(shí)間:2011/2/1
- ISBN:9787562829584
- 出 版 社:華東理工大學(xué)出版社
- 中圖法分類:O74
- 頁(yè)碼:263
- 紙張:膠版紙
- 版次:1
- 開(kāi)本:32開(kāi)
《結(jié)晶化學(xué)》所介紹的結(jié)晶化學(xué)主要內(nèi)容包含以下四大部分幾何結(jié)晶學(xué)、X射線晶體衍射學(xué)、晶體化學(xué)和晶體物理。幾何結(jié)晶學(xué)是應(yīng)用對(duì)稱性的幾何理論討論了晶體宏觀外形的對(duì)稱性和晶體內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的對(duì)稱性;X射線晶體衍射學(xué)包括晶體X射線衍射學(xué)基本理論、X射線衍射的基本實(shí)驗(yàn)方法及X射線粉末法在化學(xué)中的應(yīng)用;晶體化學(xué)包括了對(duì)無(wú)方向性和不飽和性的金屬鍵、離子鍵、范德瓦爾斯鍵所構(gòu)成的晶體結(jié)構(gòu)(用圓球的密堆積模型)規(guī)律與性能之間關(guān)系的描述,而對(duì)于較復(fù)雜化合物的晶體結(jié)構(gòu)則應(yīng)用負(fù)離子配位多面體的構(gòu)型進(jìn)行描述;晶體物理部分則應(yīng)用群論的工具分別計(jì)算了晶體的力學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)、光學(xué)等物理參量,并導(dǎo)出晶體相應(yīng)的物理性質(zhì),從理論上給出晶體的組成、結(jié)構(gòu)與各種特殊性能之間的關(guān)系。
緒論
第一章 晶體及晶體的投影
1.1 晶體
1.1.1 晶體的定義
1.1.2 晶體的特性
1.2 昌體結(jié)構(gòu)和空間點(diǎn)陣
1.2.1 晶體結(jié)構(gòu)中質(zhì)點(diǎn)分布的周期性
1.2.2 空間點(diǎn)陣的概念和晶體的嚴(yán)格定義
1.2.3 空間點(diǎn)陣的基本性質(zhì)及空間點(diǎn)陣的幾何形象
1.2.4 空間格子的形象
1.2.5 平移群
1.3 面角守恒定律和晶體的投影
1.3.1 面角守恒定律
1.3.2 晶體的測(cè)量
1.4 昌體的投影
1.4.1 晶體的球面投影及其坐標(biāo)
1.4.2 晶體的極射赤平投影與心射極平投影
習(xí)題
第2章 幾何結(jié)晶學(xué)
2.1 昌體的宏觀對(duì)稱性
2.1.1 對(duì)稱性的概念
2.1.2 晶體的對(duì)稱要素
2.1.3 對(duì)稱要素的組合原理
2.1.4 32種宏觀對(duì)稱類型
2.1.5 對(duì)稱類型的符號(hào)
2.1.6 晶體的對(duì)稱分類
2.1.7 對(duì)稱型的類型
2.2 昌體定向和昌面符號(hào)
2.2.1 晶體的定向和晶體幾何常數(shù)
2.2.2 整數(shù)定律和晶體定向的基本原則
2.2.3 晶面符號(hào)
2.3 晶體的微觀對(duì)稱性
2.3.1 晶體的微觀對(duì)稱要素
2.3.2 晶體的微觀對(duì)稱類型(230種空間群)
2.3.3 空間群推導(dǎo)舉例
2.3.4 微觀對(duì)稱性和宏觀對(duì)稱性的關(guān)系
習(xí)題
第3章 晶體X射線結(jié)構(gòu)分析
3.1 X射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)
3.1.1 X射線的產(chǎn)生
3.1.2 X射線的性質(zhì)
3.2 X射線在昌體中的衍射效應(yīng)
3.3 勞厄方程和布拉格-烏爾夫方程
3.3.1 直線點(diǎn)陣衍射條件
3.3.2 平面點(diǎn)陣衍射條件
3.3.3 空間點(diǎn)陣衍射條件
3.3.4 X射線在平面點(diǎn)陣上的“反射”
3.3.5 布拉格一烏爾夫方程
3.4 測(cè)定昌胞大小及形狀的實(shí)驗(yàn)方法
3.4.1 勞厄法
3.4.2 回轉(zhuǎn)法
3.4.3 粉末法
3.4.4 衍射儀法
3.5 衍射曩度公式——昌胞中原子位置的確定
3.6 昌體結(jié)構(gòu)分析內(nèi)容
3.7 多昌粉末法的應(yīng)用
3.7.1 確定簡(jiǎn)單晶體結(jié)構(gòu)點(diǎn)陣型式
3.7.2 固體樣品的物相分析
3.7.3 平均粒度的測(cè)定
習(xí)題
第4章 晶體化學(xué)
4.1 單質(zhì)的昌體結(jié)構(gòu)
4.1.1 金屬鍵和金屬的一般性質(zhì)
4.1.2 等徑圓球的堆積
4.1.3 金屬元素的晶體結(jié)構(gòu)
4.1.4 金屬的原子半徑
4.1.5 非金屬元素單質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)
4.1.6 單質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)的過(guò)渡
4.2 合金的結(jié)構(gòu)
4.2.1 金屬固溶體
4.2.2 金屬化合物
4.2.3 間隙固溶體
4.2.4 鋼鐵的結(jié)構(gòu)和性能
4.3 離子化合物晶體的結(jié)構(gòu)通論
4.3.1 離子型化合物晶體結(jié)構(gòu)的描述
4.3.2 點(diǎn)陣能
4.3.3 點(diǎn)陣能的意義
4.3.4 離子半徑
4.3.5 離子的堆積
4.3.6 離子的極化
4.3.7 結(jié)晶化學(xué)定律
4.4 鮑林規(guī)則及硅酸鹽昌體結(jié)構(gòu)
4.4.1 鮑林第一規(guī)則(負(fù)離子多面體規(guī)則)
4.4.2 鮑林第二規(guī)則(電價(jià)規(guī)則)
4.4.3 鮑林第三規(guī)則(負(fù)離子多面體公用頂點(diǎn)、棱與面的規(guī)則)
4.4.4 硅酸鹽晶體的結(jié)構(gòu)特征
4.4.5 硅酸鹽的結(jié)構(gòu)分類
4.4.6 分子篩的結(jié)構(gòu)與性能
4.5 同昌現(xiàn)象(類質(zhì)同象)
習(xí)題
第5章 晶體的物理性質(zhì)
5.1 張量基礎(chǔ)知識(shí)
5.1.1 張量的概念
5.1.2 張量的變換定律
5.1.3 二階張量的幾何表示法
5.1.4 晶體對(duì)稱性對(duì)晶體物理性質(zhì)的影響
5.2 昌體的力學(xué)性質(zhì)
5.2.1 晶體的彈性性質(zhì)
5.2.2 晶體的范性性質(zhì)
5.2.3 晶體的解理性
5.2.4 晶體的硬度
5.3 昌體的熱學(xué)性質(zhì)
5.3.1 晶體的導(dǎo)熱性質(zhì)
5.3.2 晶體的熱膨脹
5.4 昌體的電學(xué)生質(zhì)
5.4.1 晶體的介電性質(zhì)
5.4.2 晶體的壓電性質(zhì)
5.4.3 晶體的熱釋電性質(zhì)
5.4.4 晶體的鐵電性質(zhì)
5.5 昌體的磁學(xué)性質(zhì)
5.5.1 晶體的磁性
5.5.2 磁致伸縮與磁彈性能
5.5.3 磁光效應(yīng)
5.5.4 磁信息(記錄)、磁光及磁致伸縮材料
5.6 昌體的光學(xué)性質(zhì)
5.6.1 晶體的顏色及呈色機(jī)理
5.6.2 晶體的發(fā)光性
5.6.3 晶體光學(xué)基礎(chǔ)
5.6.4 晶體中的雙折射現(xiàn)象
5.6.5 晶體光學(xué)的幾何示性面——光率體和折射率面
5.6.6 晶體折射率色散
5.6.7 晶體的電光效應(yīng)
5.6.8 晶體的彈光效應(yīng)與聲光效應(yīng)
5.6.9 晶體的非線性光學(xué)效應(yīng)
習(xí)題
參考文獻(xiàn)
結(jié)晶化學(xué)的研究?jī)?nèi)容包括如下幾個(gè)方面。
(1)晶體生長(zhǎng)學(xué)。研究晶體的生成、成長(zhǎng)的機(jī)理和晶體的人工合成,用于追溯自然界晶體形成的環(huán)境并指導(dǎo)晶體的人工制備。
(2)幾何結(jié)晶學(xué)。研究晶體構(gòu)造理論、晶體的對(duì)稱性、晶體外形的幾何規(guī)律,是結(jié)晶化學(xué)的經(jīng)典內(nèi)容和基礎(chǔ)。
(3)晶體結(jié)構(gòu)學(xué)。研究晶體中質(zhì)點(diǎn)排布的規(guī)律及其實(shí)驗(yàn)測(cè)定方法,晶體結(jié)構(gòu)資料的獲取,為闡明晶體的一系列現(xiàn)象和性質(zhì)提供依據(jù)。
(4)晶體化學(xué)。研究晶體化學(xué)組成、結(jié)構(gòu)與晶體性能及形成條件的關(guān)系,其理論用于解釋晶體的一系列現(xiàn)象和性質(zhì),并指導(dǎo)發(fā)現(xiàn)或制備具有預(yù)期特性的晶體。
(5)晶體物理學(xué)。研究晶體的物理性能及其產(chǎn)生機(jī)理,對(duì)于更好地應(yīng)用晶體的特殊性能有重要指導(dǎo)意義。
結(jié)晶化學(xué)的研究手段和方法如下。
(1)研究晶體化學(xué)成分一般采用化學(xué)分析、光譜分析和電子探針?lè)治龅取?br> (2)研究晶體結(jié)構(gòu)的基本方法是x射線衍射分析。為了特殊需要還須采用透射電鏡和紅外光譜、穆斯堡爾譜等各種譜學(xué)方法作為輔助分析手段。
(3)對(duì)晶體形貌的研究,傳統(tǒng)的測(cè)角術(shù)仍是基本方法。研究晶體表面微觀形貌,還需要借助干涉顯微鏡和電子顯微鏡進(jìn)行晶體表面的研究。
(4)對(duì)晶體生長(zhǎng)的研究,除對(duì)天然晶體的觀測(cè)外,主要是通過(guò)人工晶體的培養(yǎng),研究晶體生長(zhǎng)機(jī)理,并合成所需的各種晶體。
(5)對(duì)晶體的各種物理性能的研究和物理常數(shù)的測(cè)定,常采用偏光顯微鏡、電子顯微鏡、波譜分析和電學(xué)、磁學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)等各種測(cè)定-療法。