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X射線多晶衍射數(shù)據(jù)Rietveld精修及GSAS軟件入門 讀者對象:本書可以作為材料、化學以及地質等領域使用Rietveld法進行結構精修的研究人員的入門參考書,也可以作為本科生、研究生教學的實驗教材
《X射線多晶衍射數(shù)據(jù)Rietveld精修及GSAS軟件入門》一書自2016年出版至今已有七年,迄今已重印4次。目前,書中的部分網站鏈接失效,部分引用數(shù)據(jù)已更新。另外,也有讀者建議增加其他的操作內容,以豐富圖書的內容。修訂時,主要更新了一些網站鏈接以及部分引用數(shù)據(jù),同時明確了軟件和教程下載二維碼的所在頁數(shù)。增加了采用GSAS對Si標樣的結構精修、采用已有EXP進行定量計算、計算晶粒大小和微觀應變以及定制軟件界面等內容。本選題主要內容為X射線多晶衍射數(shù)據(jù)的Rietveld法精修相關的理論概述,以及精修軟件GSAS的安裝、使用、示例介紹及提高練習。通過豐富的實例講解,使讀者能掌握Rietveld精修理論和軟件基本操作。
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