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晶體結構與缺陷的電子顯微分析實驗案例

晶體結構與缺陷的電子顯微分析實驗案例

定  價:149 元

        

  • 作者:馬秀良
  • 出版時間:2024/1/1
  • ISBN:9787040610963
  • 出 版 社:高等教育出版社
  • 中圖法分類:O766 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:16開
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本書涵蓋作者自20世紀80年代末師從郭可信先生起至近年帶領研究團隊在有關電子衍射方面所積累的主要實驗案例,旨在以案例的形式梳理電子顯微學及晶體學的基礎知識,展示如何通過對材料基礎科學問題的再認識從而對經(jīng)典問題產(chǎn)生新理解,分享發(fā)現(xiàn)的樂趣,傳授 30 余載的學術經(jīng)驗。本書主體(第2~6章)按晶體的對稱性從低到高依次展開,包括單斜、正交、四方、六方、三方、菱方、立方晶系,涉及周期性晶體14種布拉維點陣中的13種點陣類別以及部分準晶體,共40余種物相。第1章和第7章是科學研究中相關歷史事件的精彩片段,不但能引起讀者對本領域歷代先驅(qū)者的無限敬仰,也能激發(fā)年輕學者投身于基礎科學研究、探索自然奧秘的熱情和決心。 本書適合作為電子顯微學以及材料相關專業(yè)研究生的教學用書,也可供材料科學與過程領域的科研工作者和從業(yè)者閱讀和參考。
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