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電介質(zhì)中的電荷積聚:測(cè)試與分析(英文版)

電介質(zhì)中的電荷積聚:測(cè)試與分析(英文版)

定  價(jià):268 元

        

  • 作者:高田達(dá)雄,任瀚文 等
  • 出版時(shí)間:2023/6/1
  • ISBN:9787030728944
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類(lèi):O441.1 
  • 頁(yè)碼:384
  • 紙張:
  • 版次:31
  • 開(kāi)本:B5
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讀者對(duì)象:高電壓與絕緣技術(shù)領(lǐng)域從業(yè)人員

非線(xiàn)性算子理論是非線(xiàn)性科學(xué)的理論基礎(chǔ)和基本工具,并在其他分支中發(fā)揮著重要作用。其中,非線(xiàn)性算子不動(dòng)點(diǎn)理論是非線(xiàn)性控制理論的重要組成部分,尤其是非線(xiàn)性算子方程(組)解的迭代逼近問(wèn)題一直是非線(xiàn)性控制理論領(lǐng)域活躍的研究課題。
近年來(lái),在圖像處理與強(qiáng)度可調(diào)輻射療法的實(shí)際應(yīng)用背景下,分裂可行性問(wèn)題成為近期非線(xiàn)性分析的研究熱點(diǎn)之一。本專(zhuān)著從三個(gè)方面研究分裂可行性問(wèn)題與廣義分裂可行性問(wèn)題(分裂公共不動(dòng)點(diǎn)問(wèn)題、分裂變分不等式問(wèn)題和分裂公共零點(diǎn)問(wèn)題)解的迭代逼近。主要體現(xiàn)在新算法設(shè)計(jì)、空間擴(kuò)展和參數(shù)減弱限制條件等方面。對(duì)于豐富和擴(kuò)展分裂可行性問(wèn)題相關(guān)理論有重要價(jià)值。

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