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基于機(jī)器學(xué)習(xí)的磁盤(pán)故障預(yù)測(cè)研究

基于機(jī)器學(xué)習(xí)的磁盤(pán)故障預(yù)測(cè)研究

定  價(jià):38 元

        

  • 作者:江天明著
  • 出版時(shí)間:2022/1/1
  • ISBN:9787307226159
  • 出 版 社:武漢大學(xué)出版社
  • 中圖法分類(lèi):TP333.3 
  • 頁(yè)碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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隨著互聯(lián)網(wǎng)時(shí)代的到來(lái),數(shù)據(jù)規(guī)模的快速增長(zhǎng)給存儲(chǔ)帶來(lái)了巨大挑戰(zhàn)。磁盤(pán)憑借其容量大、價(jià)格低等優(yōu)勢(shì),被廣泛應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。然而,磁盤(pán)屬干復(fù)雜的機(jī)械電子設(shè)備,維持其高可靠性很具挑戰(zhàn)性。磁盤(pán)故障預(yù)測(cè)技術(shù)對(duì)即將發(fā)生的磁盤(pán)故障進(jìn)行預(yù)測(cè),在磁盤(pán)故障發(fā)生之前,主動(dòng)地對(duì)這些磁盤(pán)中的數(shù)據(jù)進(jìn)行遷移,達(dá)到提高可靠性并降低維護(hù)開(kāi)銷(xiāo)的目的。但仍存在如下問(wèn)題亟帶解決:(1)由于缺乏故障磁盤(pán)樣本,導(dǎo)致基于有監(jiān)督分類(lèi)模型的磁盤(pán)故障預(yù)測(cè)方法存在適應(yīng)性受限的問(wèn)題;(2)僅使用預(yù)測(cè)準(zhǔn)確率衡量預(yù)測(cè)方法的好壞,缺少對(duì)預(yù)測(cè)錯(cuò)誤代價(jià)的評(píng)估:(3)基于扇區(qū)故障預(yù)測(cè)對(duì)存在潛在扇區(qū)故障的磁盤(pán)進(jìn)行提升頻率的掃描檢測(cè),導(dǎo)致維護(hù)開(kāi)銷(xiāo)增加。本書(shū)即針對(duì)這3點(diǎn)問(wèn)題做出分析并提出自己的解決辦法。

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