隨鉆電阻率成像測(cè)井可以提供豐富的測(cè)量信息, 包括鉆頭電阻率曲線、多條側(cè)向電阻率曲線以及井壁電阻率圖像�？梢詽M足含有裂縫、薄層、低孔隙度、低滲透率等復(fù)雜儲(chǔ)層在定向井中的地質(zhì)導(dǎo)向、地層評(píng)價(jià)和井壁電阻率成像需求。本書(shū)主要介紹以下內(nèi)容: (一) 隨鉆電阻率成像測(cè)井理論; (二) 國(guó)內(nèi)外典型儀器; (三) 復(fù)雜地層測(cè)井響應(yīng)特征; (四) 裂縫地層參數(shù)解釋方法; (五) 其他成像儀器。 同時(shí), 在不同章節(jié)對(duì)該方法的多種測(cè)量模式進(jìn)行選擇性介紹。