本書從可測量光學量(吸收系數、反射率、透射率、發(fā)光效率等)的簡介開始,描述了測量所需的基本儀器設備，介紹了光譜學常用器件(包括光源、單色儀、探測器等)的工作原理和主要特點，建立了介電常數與可測量光學量(吸收系數、反射率)的聯(lián)系，介紹了金屬、絕緣體和半導體相關的光譜性質，討論了靜態(tài)晶體場模型和動態(tài)位形坐標模型對活性中心光譜性質的影響，分析了三價稀土和過渡金屬離子的主要光學性質,最后簡單地探討了群論在光譜中的應用。