可靠性·維修性·保障性技術(shù)叢書(shū)：測(cè)試性設(shè)計(jì)分析與驗(yàn)證
定 價(jià)：56 元
- 作者：石君友 ，王自力 編
- 出版時(shí)間：2011/4/1
- ISBN：9787118072877
- 出 版 社：國(guó)防工業(yè)出版社
- 中圖法分類(lèi)：TJ01
- 頁(yè)碼：341
- 紙張：膠版紙
- 版次：1
- 開(kāi)本：16開(kāi)
《可靠性·維修性·保障性技術(shù)叢書(shū)：測(cè)試性設(shè)計(jì)分析與驗(yàn)證》從工程實(shí)際出發(fā)，系統(tǒng)地闡述了測(cè)試性設(shè)計(jì)分析、試驗(yàn)與評(píng)價(jià)的思想和方法，包括測(cè)試性的基本概念、測(cè)試性定性要求和定量要求、診斷方案設(shè)計(jì)、測(cè)試性分配和預(yù)計(jì)、故障模式與測(cè)試分析、基于相關(guān)性模型的測(cè)試設(shè)計(jì)分析、測(cè)試性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則、機(jī)內(nèi)測(cè)試設(shè)計(jì)、外部測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試性驗(yàn)證與評(píng)價(jià)等，最后對(duì)測(cè)試性的新技術(shù)趨勢(shì)（綜合診斷、預(yù)測(cè)和健康管理）進(jìn)行了綜述。
《可靠性·維修性·保障性技術(shù)叢書(shū)：測(cè)試性設(shè)計(jì)分析與驗(yàn)證》可供工程技術(shù)人員和管理人員在開(kāi)展測(cè)試性設(shè)計(jì)分析、驗(yàn)證與評(píng)價(jià)時(shí)學(xué)習(xí)和參考，也可以作為培訓(xùn)教材使用。同樣可供測(cè)試性專(zhuān)業(yè)人員、大專(zhuān)院校本科生及研究生學(xué)習(xí)和參考。
符號(hào)
縮略語(yǔ)
第1章 緒論
1.1 測(cè)試性基本概念
1.1.1 測(cè)試性定義
1.1.2 測(cè)試性技術(shù)框架
1.2 測(cè)試性的發(fā)展過(guò)程
1.2.1 測(cè)試性學(xué)科的形成
1.2.2 外部測(cè)試技術(shù)的發(fā)展過(guò)程
1.2.3 機(jī)內(nèi)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展過(guò)程
1.2.4 測(cè)試性技術(shù)的新趨勢(shì)
1.3 測(cè)試性的重要性及對(duì)系統(tǒng)特性的影響
1.3.1 測(cè)試性的重要性
1.3.2 對(duì)基本可靠性的影響
1.3.3 對(duì)任務(wù)可靠性安全性、成功性的影響
1.3.4 對(duì)維修性的影響
1.3.5 對(duì)綜合保障的影響
1.3.6 對(duì)戰(zhàn)備完好性的影響
1.3.7 對(duì)系統(tǒng)性能的影響
1.3.8 對(duì)系統(tǒng)壽命周期費(fèi)用的影響
1.4 測(cè)試性參數(shù)
1.4.1 故障檢測(cè)率
1.4.2 關(guān)鍵故障檢測(cè)率
1.4.3 故障覆蓋率
1.4.4 故障隔離率
1.4.5 虛警率
1.4.6 平均虛警間隔時(shí)間
1.4.7 平均故障檢測(cè)時(shí)間
1.4.8 平均故障隔離時(shí)間
1.4.9 平均診斷時(shí)間
1.4.10 平均BIT運(yùn)行時(shí)間
1.4.11 誤拆率
1.4.12 不能復(fù)現(xiàn)率
1.4.13 臺(tái)檢可工作率
1.4.14 重測(cè)合格率
1.4.15 剩余壽命
1.5 測(cè)試性術(shù)語(yǔ)
第2章 診斷方案與測(cè)試性要求
2.1 概述
2.1.1 診斷方案與測(cè)試性要求的關(guān)系
2.1.2 診斷方案與測(cè)試性要求發(fā)展
2.2 診斷方案的組成要素與制定程序
2.2.1 診斷方案的基本組成要素
2.2.2 典型診斷方案
2.2.3 診斷方案的制定程序
2.3 測(cè)試性要求的確定過(guò)程
2.3.1 測(cè)試性要求確定的具體過(guò)程
2.3.2 測(cè)試性要求確定過(guò)程示例
2.4 測(cè)試性要求分類(lèi)
2.4.1 按定性、定量分類(lèi)與示例
2.4.2 按測(cè)試手段分類(lèi)與示例
2.4.3 按維修級(jí)別分類(lèi)與示例
第3章 測(cè)試性分配
3.1 概述
3.1.1 目的和時(shí)機(jī)
3.1.2 分配的內(nèi)容和任務(wù)
3.1.3 測(cè)試性分配原則
3.2 檢測(cè)與隔離要求的分配方法
……
第4章 故障模式與測(cè)試分析
第5章 基于相關(guān)性模型的測(cè)試性設(shè)計(jì)分析
第6章 機(jī)內(nèi)測(cè)試設(shè)計(jì)
第7章 外部測(cè)試設(shè)計(jì)
第8章 測(cè)試性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則
第9章 測(cè)試性預(yù)計(jì)
第10章 測(cè)試性驗(yàn)證與評(píng)價(jià)
第11章 測(cè)試性新技術(shù)綜述
參考文獻(xiàn)
6.5.5 其他方法
1）分布式BIT
分布式BIT方案也稱(chēng)為聯(lián)合式BIT，即除在系統(tǒng)級(jí)進(jìn)行必要的測(cè)試外，在外場(chǎng)可更換單元級(jí)（LRU-外場(chǎng)故障隔離的產(chǎn)品層次）都設(shè)置BIT。這樣，當(dāng)BIT給出NOGO指示時(shí)，就把故障直接定位到故障的LRU�？杀苊庥孟到y(tǒng)級(jí)測(cè)試經(jīng)過(guò)邏輯分析推斷發(fā)生故障的LRU時(shí)，可能導(dǎo)致的故障隔離錯(cuò)誤。所以，分布式BIT方案可以減少I(mǎi)類(lèi)虛警（錯(cuò)報(bào)）。
對(duì)于LRU級(jí)設(shè)備，其BIT可用于故障檢測(cè)，驗(yàn)證LRU級(jí)設(shè)備功能是否正常。如有故障，要隔離到SRU的話(huà)，則需要SRU級(jí)設(shè)計(jì)必要的BIT功能或測(cè)試點(diǎn)。這樣，可以減少對(duì)SRU級(jí)的故障隔離錯(cuò)誤。
2）設(shè)計(jì)指南減少虛警問(wèn)題是BIT設(shè)計(jì)的難點(diǎn)，現(xiàn)在還沒(méi)有一種簡(jiǎn)單通用的防止虛警的設(shè)計(jì)方法。但是國(guó)外已有不少的BIT實(shí)際使用經(jīng)驗(yàn)，國(guó)內(nèi)外對(duì)BIT虛警的原因和防止方法也有所分析和建議。所以，總結(jié)、歸納有關(guān)BIT虛警問(wèn)題的設(shè)計(jì)指導(dǎo)思想、基本方法和注意事項(xiàng)等，制定減少BIT虛警的設(shè)計(jì)指南或設(shè)計(jì)準(zhǔn)則，在系統(tǒng)BIT設(shè)計(jì)過(guò)程中起指導(dǎo)作用。把防止虛警措施設(shè)計(jì)進(jìn)去，可使BIT設(shè)計(jì)得更合理，從而可起到降低虛警率的作用。
目前在一些BIT設(shè)計(jì)指南、準(zhǔn)則中，關(guān)于防止虛警的內(nèi)容還很少。國(guó)外有的資料中提了幾條，也不夠充分。減少虛警的設(shè)計(jì)指南尚待進(jìn)一步研究。
3）試驗(yàn)分析改進(jìn)
前面講的多數(shù)為減少虛警的設(shè)計(jì)方法，大多數(shù)BIT和診斷測(cè)試設(shè)備不論設(shè)計(jì)得多么好，都需要有一個(gè)鑒別缺陷、分析原因、實(shí)施修正的過(guò)程，經(jīng)過(guò)一定時(shí)間的試驗(yàn)、試用、發(fā)現(xiàn)問(wèn)題、分析改進(jìn)，才能達(dá)到規(guī)定的性能水平。這是個(gè)與可靠性增長(zhǎng)相似的測(cè)試性增長(zhǎng)和診斷成熟的過(guò)程，這個(gè)成熟過(guò)程同樣適用于BIT和脫機(jī)測(cè)試。在確定用于測(cè)試模擬參數(shù)BIT測(cè)試容差時(shí)更是如此，通常要經(jīng)過(guò)較長(zhǎng)的試驗(yàn)過(guò)程才能設(shè)定合理的容差，以達(dá)到故障檢測(cè)和虛警的最佳平衡。
……
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