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基于SiP技術(shù)的微系統(tǒng) 讀者對(duì)象:本書適合SiP設(shè)計(jì)用戶、先進(jìn)封裝設(shè)計(jì)用戶,所有對(duì)SiP技術(shù)和先進(jìn)封裝技術(shù)感興趣的設(shè)計(jì)者和課題領(lǐng)導(dǎo)者,以及尋求系統(tǒng)小型化、低功耗、高性能解決方案的科技工作者。
本書采用原創(chuàng)概念、熱點(diǎn)技術(shù)和實(shí)際案例相結(jié)合的方式,講述了SiP技術(shù)從構(gòu)思到實(shí)現(xiàn)的整個(gè)流程。全書分為三部分:概念和技術(shù)、設(shè)計(jì)和仿真、項(xiàng)目和案例,共30章。第1部分基于SiP及先進(jìn)封裝技術(shù)的發(fā)展,以及作者多年積累的經(jīng)驗(yàn),提出了功能密度定律、Si3P和4D集成等原創(chuàng)概念,介紹了SiP和先進(jìn)封裝的最新技術(shù),共5章。第2部分依據(jù)最新EDA軟件平臺(tái),闡述了SiP和HDAP的設(shè)計(jì)仿真驗(yàn)證方法,涵蓋了Wire Bonding、Cavity、Chip Stack、2.5D TSV、3D TSV、RDL、Fan-In、Fan-Out、Flip Chip、分立式埋入、平面埋入、RF、Rigid-Flex、4D SiP設(shè)計(jì)、多版圖項(xiàng)目及多人協(xié)同設(shè)計(jì)等熱點(diǎn)技術(shù),以及SiP 和HDAP的各種仿真、電氣驗(yàn)證和物理驗(yàn)證,共16章。第3部分介紹了不同類型SiP實(shí)際項(xiàng)目的設(shè)計(jì)仿真和實(shí)現(xiàn)方法,共9章。
李揚(yáng)(Suny Li),SiP技術(shù)專家,畢業(yè)于北京航空航天大學(xué),獲航空宇航科學(xué)與技術(shù)專業(yè)學(xué)士及碩士學(xué)位。擁有20年工作經(jīng)驗(yàn),曾參與指導(dǎo)各類SiP項(xiàng)目40多項(xiàng)。2012年出版技術(shù)專著《SiP系統(tǒng)級(jí)封裝設(shè)計(jì)與仿真》(電子工業(yè)出版社),2017年出版英文技術(shù)專著SiP System-in-Package design and simulation(WILEY)。IEEE高級(jí)會(huì)員,中國(guó)電子學(xué)會(huì)高級(jí)會(huì)員,中國(guó)圖學(xué)學(xué)會(huì)高級(jí)會(huì)員,已獲得10余項(xiàng)國(guó)家專利,發(fā)表10余篇論文。曾在中國(guó)科學(xué)院國(guó)家空間中心、SIEMENS(西門子)中國(guó)有限公司工作。曾經(jīng)參與中國(guó)載人航天工程“神舟飛船”和中歐合作的“雙星計(jì)劃”等項(xiàng)目的研究工作。目前在奧肯思(北京)科技有限公司(AcconSys)工作,擔(dān)任技術(shù)專家,主要負(fù)責(zé)SiP及微系統(tǒng)產(chǎn)品的研發(fā)工作,以及SiP和IC封裝設(shè)計(jì)軟件的技術(shù)支持和項(xiàng)目指導(dǎo)工作。
目 錄
第1部分 概念和技術(shù) 第1章 從摩爾定律到功能密度定律 3 1.1 摩爾定律 3 1.2 摩爾定律面臨的兩個(gè)問題 4 1.2.1 微觀尺度的縮小 4 1.2.2 宏觀資源的消耗 6 1.3 功能密度定律 10 1.3.1 功能密度定律的描述 10 1.3.2 電子系統(tǒng)6級(jí)分類法 11 1.3.3 摩爾定律和功能密度定律的比較 13 1.3.4 功能密度定律的應(yīng)用 14 1.3.5 功能密度定律的擴(kuò)展 17 1.4 廣義功能密度定律 17 1.4.1 系統(tǒng)空間定義 18 1.4.2 地球空間和人類宇宙空間 18 1.4.3 廣義功能密度定律 20 第2章 從SiP到Si3P 21 2.1 概念深入:從SiP到Si3P 21 2.2 Si3P之integration 23 2.2.1 IC層面集成 23 2.2.2 PCB層面集成 26 2.2.3 封裝層面集成 28 2.2.4 集成(Integration)小結(jié) 30 2.3 Si3P之interconnection 31 2.3.1 電磁互聯(lián) 31 2.3.2 熱互聯(lián) 36 2.3.3 力互聯(lián) 37 2.3.4 互聯(lián)(interconnection)小結(jié) 39 2.4 Si3P之intelligence 39 2.4.1 系統(tǒng)功能定義 40 2.4.2 產(chǎn)品應(yīng)用場(chǎng)景 41 2.4.3 測(cè)試和調(diào)試 41 2.4.4 軟件和算法 42 2.4.5 智能(intelligence)小結(jié) 44 2.5 Si3P總結(jié) 44 2.5.1 歷史回顧 44 2.5.2 聯(lián)想比喻 45 2.5.3 前景預(yù)測(cè) 46 第3章 SiP技術(shù)與微系統(tǒng) 47 3.1 SiP技術(shù) 47 3.1.1 SiP技術(shù)的定義 47 3.1.2 SiP及其相關(guān)技術(shù) 48 3.1.3 SiP還是SOP 50 3.1.4 SiP技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域 51 3.1.5 SiP工藝和材料的選擇 55 3.2 微系統(tǒng) 57 3.2.1 自然系統(tǒng)和人造系統(tǒng) 57 3.2.2 系統(tǒng)的定義和特征 58 3.2.3 微系統(tǒng)的新定義 59 第4章 從2D到4D集成技術(shù) 61 4.1 集成技術(shù)的發(fā)展 61 4.1.1 集成的尺度 61 4.1.2 一步集成和兩步集成 62 4.1.3 封裝內(nèi)集成的分類命名 63 4.2 2D集成技術(shù) 64 4.2.1 2D集成的定義 64 4.2.2 2D集成的應(yīng)用 64 4.3 2D+集成技術(shù) 65 4.3.1 2D+集成的定義 65 4.3.2 2D+集成的應(yīng)用 66 4.4 2.5D集成技術(shù) 67 4.4.1 2.5D集成的定義 67 4.4.2 2.5D集成的應(yīng)用 67 4.5 3D集成技術(shù) 68 4.5.1 3D集成的定義 68 4.5.2 3D集成的應(yīng)用 69 4.6 4D集成技術(shù) 70 4.6.1 4D集成的定義 70 4.6.2 4D集成的應(yīng)用 71 4.6.3 4D集成的意義 73 4.7 腔體集成技術(shù) 73 4.7.1 腔體集成的定義 73 4.7.2 腔體集成的應(yīng)用 74 4.8 平面集成技術(shù) 76 4.8.1 平面集成技術(shù)的定義 76 4.8.2 平面集成技術(shù)的應(yīng)用 76 4.9 集成技術(shù)總結(jié) 78 第5章 SiP與先進(jìn)封裝技術(shù) 80 5.1 SiP基板與封裝 80 5.1.1 有機(jī)基板 80 5.1.2 陶瓷基板 82 5.1.3 硅基板 85 5.2 與先進(jìn)封裝相關(guān)的技術(shù) 85 5.2.1 TSV技術(shù) 86 5.2.2 RDL技術(shù) 87 5.2.3 IPD技術(shù) 88 5.2.4 Chiplet技術(shù) 89 5.3 先進(jìn)封裝技術(shù) 92 5.3.1 基于XY平面延伸的先進(jìn)封裝技術(shù) 93 5.3.2 基于Z軸延伸的先進(jìn)封裝技術(shù) 96 5.3.3 先進(jìn)封裝技術(shù)總結(jié) 103 5.3.4 先進(jìn)封裝的四要素:RDL、TSV、Bump和Wafer 104 5.4 先進(jìn)封裝的特點(diǎn)和SiP設(shè)計(jì)需求 105 5.4.1 先進(jìn)封裝的特點(diǎn) 105 5.4.2 先進(jìn)封裝與SiP的關(guān)系 106 5.4.3 先進(jìn)封裝和SiP設(shè)計(jì)需求 107 第1部分參考資料及說明 108 第2部分 設(shè)計(jì)和仿真 第6章 SiP設(shè)計(jì)仿真驗(yàn)證平臺(tái) 111 6.1 SiP設(shè)計(jì)技術(shù)的發(fā)展 111 6.2 SiP設(shè)計(jì)的兩套流程 112 6.3 通用SiP設(shè)計(jì)流程 112 6.3.1 原理圖設(shè)計(jì)輸入 112 6.3.2 多版圖協(xié)同設(shè)計(jì) 112 6.3.3 SiP版圖設(shè)計(jì)9大功能 113 6.4 基于先進(jìn)封裝HDAP的SiP設(shè)計(jì)流程 118 6.4.1 設(shè)計(jì)整合及網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化工具XSI 119 6.4.2 先進(jìn)封裝版圖設(shè)計(jì)工具XPD 120 6.5 設(shè)計(jì)師如何選擇設(shè)計(jì)流程 121 6.6 SiP仿真驗(yàn)證流程 122 6.6.1 電磁仿真 122 6.6.2 熱學(xué)仿真 124 6.6.3 力學(xué)仿真 125 6.6.4 設(shè)計(jì)驗(yàn)證 125 6.7 SiP設(shè)計(jì)仿真驗(yàn)證平臺(tái)的先進(jìn)性 127 第7章 中心庫(kù)的建立和管理 129 7.1 中心庫(kù)的結(jié)構(gòu) 129 7.2 Dashboard介紹 130 7.3 原理圖符號(hào)(Symbol)庫(kù)的建立 131 7.4 版圖單元(Cell)庫(kù)的建立 136 7.4.1 裸芯片Cell庫(kù)的建立 136 7.4.2 SiP封裝Cell庫(kù)的建立 141 7.5 Part庫(kù)的建立和應(yīng)用 145 7.5.1 映射Part庫(kù) 145 7.5.2 通過Part創(chuàng)建Cell庫(kù) 147 7.6 中心庫(kù)的維護(hù)和管理 148 7.6.1 中心庫(kù)常用設(shè)置項(xiàng) 149 7.6.2 中心庫(kù)數(shù)據(jù)導(dǎo)入導(dǎo)出 149 第8章 SiP原理圖設(shè)計(jì)輸入 152 8.1 網(wǎng)表輸入 152 8.2 原理圖設(shè)計(jì)輸入 154 8.2.1 原理圖工具介紹 154 8.2.2 創(chuàng)建原理圖項(xiàng)目 162 8.2.3 原理圖基本操作 163 8.2.4 原理圖設(shè)計(jì)檢查 167 8.2.5 設(shè)計(jì)打包Package 169 8.2.6 輸出元器件列表Partlist 172 8.2.7 原理圖中文菜單和中文輸入 173 8.3 基于DataBook的原理圖輸入 175 8.3.1 DataBook介紹 175 8.3.2 DataBook使用方法 176 8.3.3 元器件屬性的校驗(yàn)和更新 178 8.4 文件輸入/輸出 179 8.4.1 通用輸入/輸出 179 8.4.2 輸出到仿真工具 181 第9章 版圖的創(chuàng)建與設(shè)置 183 9.1 創(chuàng)建版圖模板 183 9.1.1 版圖模板定義 183 9.1.2 創(chuàng)建SiP版圖模板 184 9.2 創(chuàng)建版圖項(xiàng)目 194 9.2.1 創(chuàng)建新的SiP項(xiàng)目 194 9.2.2 進(jìn)入版圖設(shè)計(jì)環(huán)境 195 9.3 版圖相關(guān)設(shè)置與操作 196 9.3.1 版圖License控制介紹 196 9.3.2 鼠標(biāo)操作方法 197 9.3.3 四種常用操作模式 199 9.3.4 顯示控制(Display Control) 202 9.3.5 編輯控制(Editor Control) 207 9.3.6 智能光標(biāo)提示 213 9.4 版圖布局 213 9.4.1 元器件布局 213 9.4.2 查看原理圖 217 9.5 封裝引腳定義優(yōu)化 218 9.6 版圖中文輸入 218 第10章 約束規(guī)則管理 221 10.1 約束管理器(Constraint Manager) 221 10.2 方案(Scheme) 222 10.2.1 創(chuàng)建方案 223 10.2.2 在版圖設(shè)計(jì)中應(yīng)用Scheme 223 10.3 網(wǎng)絡(luò)類規(guī)則(Net Class) 224 10.3.1 創(chuàng)建網(wǎng)絡(luò)類并指定網(wǎng)絡(luò)到網(wǎng)絡(luò)類 224 10.3.2 定義網(wǎng)絡(luò)類規(guī)則 225 10.4 間距規(guī)則(Clearance) 226 10.4.1 間距規(guī)則的創(chuàng)建與設(shè)置 226 10.4.2 通用間距規(guī)則 227 10.4.3 網(wǎng)絡(luò)類到網(wǎng)絡(luò)類間距規(guī)則 228 10.5 約束類(Constraint Class) 229 10.5.1 新建約束類并指定網(wǎng)絡(luò)到約束類 229 10.5.2 電氣約束分類 230 10.5.3 編輯約束組 231 10.6 Constraint Manager和版圖數(shù)據(jù)交互 232 10.6.1 更新版圖數(shù)據(jù) 232 10.6.2 與版圖數(shù)據(jù)交互 233 10.7 規(guī)則設(shè)置實(shí)例 233 10.7.1 等長(zhǎng)約束設(shè)置 233 10.7.2 差分約束設(shè)置 236 10.7.3 Z軸間距設(shè)置 237 第11章 Wire Bonding設(shè)計(jì)詳解 239 11.1 Wire Bonding概述 239 11.2 Bond Wire 模型 240 11.2.1 Bond Wire模型定義 241 11.2.2 Bond Wire模型參數(shù) 245 11.3 Wire Bonding工具欄及其應(yīng)用 246 11.3.1 手動(dòng)添加Bond Wire 246 11.3.2 移動(dòng)、推擠及旋轉(zhuǎn)Bond Finger 247 11.3.3 自動(dòng)生成Bond Wire 248 11.3.4 通過導(dǎo)引線添加Bond Wire 249 11.3.5 添加Power Ring 251 11.4 Bond Wire規(guī)則設(shè)置 252 11.4.1 針對(duì)Component的設(shè)置 253 11.4.2 針對(duì)Die Pin的設(shè)置 256 11.4.3 在Die Pin和Bond Finger之間添加多根Bond Wire 258 11.4.4 從單個(gè)Die Pin扇出多根Bond Wire到多個(gè)Bond Finger 258 11.4.5 多個(gè)Die Pin同時(shí)鍵合到一個(gè)Bond Finger上 259 11.4.6 Die to Die Bonding 259 11.5 Wire Model Editor和Wire Instance Editor 261 第12章 腔體、芯片堆疊及TSV設(shè)計(jì) 265 12.1 腔體設(shè)計(jì) 265 12.1.1 腔體的定義 265 12.1.2 腔體的創(chuàng)建 267 12.1.3 將芯片放置到腔體中 269 12.1.4 在腔體中鍵合 270 12.1.5 通過腔體將分立式元器件埋入基板 271 12.1.6 在Die Cell中添加腔體實(shí)現(xiàn)元器件埋入 273 12.2 芯片堆疊設(shè)計(jì) 275 12.2.1 芯片堆疊的概念 275 12.2.2 芯片堆疊的創(chuàng)建 276 12.2.3 并排堆疊芯片 277 12.2.4 芯片堆疊的調(diào)整及鍵合 278 12.2.5 芯片和腔體組合設(shè)計(jì) 279 12.3 2.5D TSV的概念和設(shè)計(jì) 281 12.4 3D TSV的概念和設(shè)計(jì) 281 12.4.1 3D TSV的概念 281 12.4.2 3D TSV Cell創(chuàng)建 283 12.4.3 芯片堆疊間引腳對(duì)齊原則 284 12.4.4 3D TSV堆疊并互聯(lián) 284 12.4.5 3D 引腳模型的設(shè)置 286 12.4.6 網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化并布線 287 12.4.7 DRC檢查并完成3D TSV設(shè)計(jì) 289 第13章 RDL及Flip Chip設(shè)計(jì) 291 13.1 RDL的概念和應(yīng)用 291 13.1.1 Fan-In型RDL 292 13.1.2 Fan-Out型RDL 293 13.2 Flip Chip的概念及特點(diǎn) 294 13.3 RDL設(shè)計(jì) 295 13.3.1 Bare Die及RDL庫(kù)的建立 295 13.3.2 RDL原理圖設(shè)計(jì) 297 13.3.3 RDL版圖設(shè)計(jì) 297 13.4 Flip Chip設(shè)計(jì) 301 13.4.1 Flip Chip原理圖設(shè)計(jì) 301 13.4.2 Flip Chip版圖設(shè)計(jì) 302 第14章 版圖布線與敷銅 307 14.1 版圖布線 307 14.1.1 布線綜述 307 14.1.2 手工布線 307 14.1.3 半自動(dòng)布線 312 14.1.4 自動(dòng)布線 315 14.1.5 差分對(duì)布線 316 14.1.6 長(zhǎng)度控制布線 319 14.1.7 電路復(fù)制 323 14.2 版圖敷銅 325 14.2.1 敷銅定義 325 14.2.2 敷銅設(shè)置 325 14.2.3 繪制并生成敷銅數(shù)據(jù) 328 14.2.4 生成敷銅排氣孔 331 14.2.5 檢查敷銅數(shù)據(jù) 333 第15章 埋入式無(wú)源器件設(shè)計(jì) 334 15.1 埋入式元器件技術(shù)的發(fā)展 334 15.1.1 分立式埋入技術(shù) 334 15.1.2 平面埋入式技術(shù) 336 15.2 埋入式無(wú)源器件的工藝和材料 336 15.2.1 埋入工藝Processes 337 15.2.2 埋入材料Materials 342 15.2.3 電阻材料的非線性特征 346 15.3 無(wú)源器件自動(dòng)綜合 347 15.3.1 自動(dòng)綜合前的準(zhǔn)備 347 15.3.2 電阻自動(dòng)綜合 349 15.3.3 電容自動(dòng)綜合 353 15.3.4 自動(dòng)綜合后版圖原理圖同步 357 第16章 RF電路設(shè)計(jì) 359 16.1 RF SiP技術(shù) 359 16.2 RF設(shè)計(jì)流程 360 16.3 RF元器件庫(kù)的配置 360 16.3.1 導(dǎo)入RF符號(hào)到設(shè)計(jì)中心庫(kù) 360 16.3.2 中心庫(kù)分區(qū)搜索路徑設(shè)置 361 16.4 RF原理圖設(shè)計(jì) 362 16.4.1 RF原理圖工具欄 362 16.4.2 RF原理圖輸入 364 16.5 原理圖與版圖RF參數(shù)的相互傳遞 365 16.6 RF版圖設(shè)計(jì) 368 16.6.1 RF版圖工具箱 368 16.6.2 RF單元的3種類型 369 16.6.3 Meander的繪制及編輯 370 16.6.4 創(chuàng)建用戶自定義的RF單元 372 16.6.5 Via添加功能 374 16.6.6 RF Group介紹 376 16.6.7 Auto Arrange功能 377 16.6.8 通過鍵合線連接RF單元 377 16.7 與RF仿真工具連接并傳遞數(shù)據(jù) 378 16.7.1 連接RF仿真工具 378 16.7.2 原理圖RF數(shù)據(jù)傳遞 380 16.7.3 版圖RF數(shù)據(jù)傳遞 381 第17章 剛?cè)犭娐泛?D SiP設(shè)計(jì) 383 17.1 剛?cè)犭娐方榻B 383 17.2 剛?cè)犭娐吩O(shè)計(jì) 384 17.2.1 剛?cè)犭娐吩O(shè)計(jì)流程 384 17.2.2 剛?cè)犭娐诽赜械膶宇愋?384 17.2.3 剛?cè)犭娐吩O(shè)計(jì)步驟 385 17.3 復(fù)雜基板技術(shù) 394 17.3.1 復(fù)雜基板的定義 394 17.3.2 復(fù)雜基板的應(yīng)用 394 17.4 基于4D集成的SiP設(shè)計(jì) 395 17.4.1 4D集成SiP基板定義 395 17.4.2 4D集成SiP設(shè)計(jì)流程 396 17.5 4D SiP設(shè)計(jì)的意義 400 第18章 多版圖項(xiàng)目與多人協(xié)同設(shè)計(jì) 401 18.1 多版圖項(xiàng)目 401 18.1.1 多版圖項(xiàng)目設(shè)計(jì)需求 401 18.1.2 多版圖項(xiàng)目設(shè)計(jì)流程 402 18.2 原理圖多人協(xié)同設(shè)計(jì) 405 18.2.1 原理圖協(xié)同設(shè)計(jì)的思路 405 18.2.2 原理圖協(xié)同設(shè)計(jì)的操作方法 406 18.3 版圖多人實(shí)時(shí)協(xié)同設(shè)計(jì) 409 18.3.1 版圖實(shí)時(shí)協(xié)同軟件的配置 411 18.3.2 啟動(dòng)并應(yīng)用版圖實(shí)時(shí)協(xié)同設(shè)計(jì) 412 第19章 基于先進(jìn)封裝(HDAP)的SiP設(shè)計(jì)流程 415 19.1 先進(jìn)封裝設(shè)計(jì)流程介紹 415 19.1.1 HDAP設(shè)計(jì)環(huán)境需要的技術(shù)指標(biāo) 415 19.1.2 HDAP設(shè)計(jì)流程 416 19.1.3 設(shè)計(jì)任務(wù)HBM(3D+2.5D) 417 19.2 XSI設(shè)計(jì)環(huán)境 418 19.2.1 設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)準(zhǔn)備 418 19.2.2 XSI常用工作窗口介紹 419 19.2.3 創(chuàng)建項(xiàng)目和設(shè)計(jì)并添加元器件 420 19.2.4 通過XSI優(yōu)化網(wǎng)絡(luò)連接 428 19.2.5 版圖模板選擇 429 19.2.6 設(shè)計(jì)傳遞 431 19.3 XPD設(shè)計(jì)環(huán)境 432 19.3.1 Interposer數(shù)據(jù)同步檢查 432 19.3.2 Interposer布局布線 433 19.3.3 Substrate數(shù)據(jù)同步檢查 434 19.3.4 Substrate布局布線 435 19.4 3D數(shù)字化樣機(jī)模擬 436 19.4.1 數(shù)字化樣機(jī)的概念 436 19.4.2 3D View環(huán)境介紹 437 19.4.3 構(gòu)建HDAP數(shù)字化樣機(jī)模型 438 第20章 設(shè)計(jì)檢查和生產(chǎn)數(shù)據(jù)輸出 444 20.1 Online DRC 444 20.2 Batch DRC 445 20.2.1 DRC Settings選項(xiàng)卡 445 20.2.2 Connectivity and Special Rules選項(xiàng)卡 447 20.2.3 Batch DRC方案 448 20.3 Hazard Explorer介紹 449 20.4 設(shè)計(jì)庫(kù)檢查 453 20.5 生產(chǎn)數(shù)據(jù)輸出類型 453 20.6 Gerber和鉆孔數(shù)據(jù)輸出 454 20.6.1 輸出鉆孔數(shù)據(jù) 454 20.6.2 設(shè)置Gerber文件格式 457 20.6.3 輸出Gerber文件 458 20.6.4 導(dǎo)入并檢查Gerber文件 460 20.7 GDS文件和Color Map輸出 461 20.7.1 GDS文件輸出 461 20.7.2 Color Map輸出 462 20.8 其他生產(chǎn)數(shù)據(jù)輸出 463 20.8.1 元器件及Bond Wire坐標(biāo)文件輸出 463 20.8.2 DXF文件輸出 465 20.8.3 版圖設(shè)計(jì)狀態(tài)輸出 465 20.8.4 BOM輸出 466 第21章 SiP仿真驗(yàn)證技術(shù) 468 21.1 SiP仿真驗(yàn)證技術(shù)概述 468 21.2 信號(hào)完整性(SI)仿真 469 21.2.1 HyperLynx SI 信號(hào)完整性仿真工具介紹 469 21.2.2 HyperLynx SI 信號(hào)完整性仿真實(shí)例分析 471 21.3 電源完整性(PI)仿真 476 21.3.1 HyperLynx PI 電源完整性仿真工具介紹 477 21.3.2 HyperLynx PI 電源完整性仿真實(shí)例分析 478 21.4 熱分析(Thermal)仿真 483 21.4.1 HyperLynx Thermal熱分析軟件介紹 484 21.4.2 HyperLynx Thermal熱仿真實(shí)例分析 484 21.4.3 FloTHERM軟件介紹 488 21.4.4 T3Ster熱測(cè)試設(shè)備介紹 489 21.5 先進(jìn)3D解算器 491 21.5.1 全波解算器(Full-Wave Solver)介紹 491 21.5.2 快速3D解算器(Fast 3D Solver)介紹 491 21.6 數(shù)/;旌想娐贩抡 492 21.7 電氣規(guī)則驗(yàn)證 493 21.7.1 HyperLynx DRC工具介紹 493 21.7.2 電氣規(guī)則驗(yàn)證實(shí)例 494 21.8 HDAP物理驗(yàn)證 499 21.8.1 Calibre 3DSTACK工具介紹 499 21.8.2 HDAP物理驗(yàn)證實(shí)例 500 第2部分參考資料及說明 506 第3部分 項(xiàng)目和案例 第22章 基于SiP技術(shù)的大容量存儲(chǔ)芯片設(shè)計(jì)案例 509 22.1 大容量存儲(chǔ)器在航天產(chǎn)品中的應(yīng)用現(xiàn)狀 509 22.2 SiP技術(shù)應(yīng)用的可行性分析 510 22.2.1 裸芯片選型 510 22.2.2 設(shè)計(jì)仿真工具選型 512 22.2.3 生產(chǎn)測(cè)試廠家選擇 512 22.3 基于SiP技術(shù)的大容量存儲(chǔ)芯片設(shè)計(jì) 513 22.3.1 方案設(shè)計(jì) 513 22.3.2 詳細(xì)設(shè)計(jì) 514 22.4 大容量存儲(chǔ)芯片封裝和測(cè)試 519 22.4.1 芯片封裝 519 22.4.2 機(jī)臺(tái)測(cè)試 522 22.4.3 系統(tǒng)測(cè)試 523 22.4.4 后續(xù)測(cè)試及成本比例 523 22.5 新舊產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)比較 525 第23章 SiP項(xiàng)目規(guī)劃及設(shè)計(jì)案例 526 23.1 SiP項(xiàng)目規(guī)劃 526 23.1.1 SiP的特點(diǎn)和適用性 526 23.1.2 SiP項(xiàng)目需要明確的因素 529 23.2 設(shè)計(jì)規(guī)則導(dǎo)入 530 23.2.1 項(xiàng)目要求及方案分析 530 23.2.2 SiP實(shí)現(xiàn)方案 532 23.3 SiP產(chǎn)品設(shè)計(jì) 534 23.3.1 符號(hào)及單元庫(kù)設(shè)計(jì) 534 23.3.2 原理設(shè)計(jì) 535 23.3.3 版圖設(shè)計(jì) 535 23.3.4 產(chǎn)品封裝測(cè)試 538 第24章 2.5D TSV技術(shù)及設(shè)計(jì)案例 539 24.1 2.5D集成的需求 539 24.2 傳統(tǒng)封裝工藝與2.5D集成的對(duì)比 539 24.2.1 倒裝焊(Flip Chip)工藝 539 24.2.2 引線鍵合(Wire Bonding)工藝 540 24.2.3 傳統(tǒng)工藝與2.5D集成的優(yōu)劣勢(shì)分析 541 24.3 2.5D TSV轉(zhuǎn)接板設(shè)計(jì) 542 24.3.1 2.5D TSV轉(zhuǎn)接板封裝結(jié)構(gòu) 542 24.3.2 2.5D轉(zhuǎn)接板封裝設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn) 543 24.4 轉(zhuǎn)接板、有機(jī)基板工藝流程比較 544 24.4.1 硅基轉(zhuǎn)接板 544 24.4.2 玻璃基轉(zhuǎn)接板 545 24.4.3 有機(jī)材料基板 546 24.4.4 兩種轉(zhuǎn)接板及有機(jī)基板工藝能力比較 546 24.5 掩模版工藝流程簡(jiǎn)介 546 24.6 2.5D硅轉(zhuǎn)接板設(shè)計(jì)、仿真、制造案例 547 24.6.1 封裝結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 547 24.6.2 封裝布線、信號(hào)及結(jié)構(gòu)仿真 549 24.6.3 生產(chǎn)數(shù)據(jù)Tape Out及掩模版準(zhǔn)備 552 24.6.4 轉(zhuǎn)接板的加工及整體組裝 553 第25章 數(shù)字T/R組件SiP設(shè)計(jì)案例 554 25.1 雷達(dá)系統(tǒng)簡(jiǎn)介 554 25.2 SiP技術(shù)的采用 555 25.3 數(shù)字T/R組件電路設(shè)計(jì) 556 25.3.1 數(shù)字T/R組件的功能簡(jiǎn)介 556 25.3.2 數(shù)字T/R組件的結(jié)構(gòu)及原理設(shè)計(jì) 557 25.3.3 數(shù)字T/R組件的SiP版圖設(shè)計(jì) 559 25.4 金屬殼體及一體化封裝設(shè)計(jì) 560 第26章 MEMS驗(yàn)證SiP設(shè)計(jì)案例 563 26.1 項(xiàng)目介紹 563 26.2 SiP方案設(shè)計(jì) 563 26.3 SiP電路設(shè)計(jì) 564 26.3.1 建庫(kù)及原理圖設(shè)計(jì) 565 26.3.2 SiP版圖設(shè)計(jì) 566 26.4 產(chǎn)品組裝及測(cè)試 571 第27章 基于剛?cè)峄宓腟iP設(shè)計(jì)案例 572 27.1 剛?cè)峄寮夹g(shù)概述 572 27.2 射頻前端系統(tǒng)架構(gòu)和RF SiP方案 573 27.2.1 微基站系統(tǒng)射頻前端架構(gòu) 573 27.2.2 RF SiP封裝選型 574 27.2.3 RF SiP基板層疊設(shè)計(jì) 575 27.3 基于剛?cè)峄錜F SiP電學(xué)設(shè)計(jì)仿真 576 27.3.1 信號(hào)完整性設(shè)計(jì)和仿真 576 27.3.2 電源完整性設(shè)計(jì)與仿真 579 27.4 基于剛?cè)峄錜F SiP的熱設(shè)計(jì)仿真 581 27.4.1 封裝結(jié)構(gòu)的熱阻網(wǎng)絡(luò)分析 581 27.4.2 RF SiP的熱性能仿真研究 583 27.5 基于剛?cè)峄錜F SiP的工藝組裝實(shí)現(xiàn) 587 第28章 射頻系統(tǒng)集成SiP設(shè)計(jì)案例 589 28.1 射頻系統(tǒng)集成技術(shù) 589 28.1.1 射頻系統(tǒng)簡(jiǎn)介 589 28.1.2 射頻系統(tǒng)集成的小型化趨勢(shì) 590 28.1.3 RF SiP和RF SoC 592 28.2 射頻系統(tǒng)集成SiP的設(shè)計(jì)與仿真 594 28.2.1 RF SiP封裝結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 594 28.2.2 RF SiP電學(xué)互連設(shè)計(jì)與仿真 595 28.2.3 RF SiP的散熱管理與仿真 597 28.4 射頻系統(tǒng)集成SiP的組裝與測(cè)試 598 28.4.1 RF SiP的組裝 598 28.4.2 RF SiP的測(cè)試 599 第29章 基于PoP的RF SiP設(shè)計(jì)案例 602 29.1 PoP技術(shù)簡(jiǎn)介 602 29.2 射頻系統(tǒng)架構(gòu)與指標(biāo) 603 29.3 RF SiP結(jié)構(gòu)與基板設(shè)計(jì) 606 29.3.1 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 606 29.3.2 基板設(shè)計(jì) 607 29.4 RF SiP信號(hào)完整性與電源完整性仿真 610 29.4.1 信號(hào)完整性(SI)仿真 610 29.4.2 電源完整性(PI)仿真 610 29.5 RF SiP熱設(shè)計(jì)仿真 612 29.6 RF SiP組裝與測(cè)試 613 第30章 SiP基板生產(chǎn)數(shù)據(jù)處理案例 616 30.1 LTCC、厚膜及異質(zhì)異構(gòu)集成技術(shù)介紹 616 30.1.1 LTCC技術(shù) 616 30.1.2 厚膜技術(shù) 617 30.1.3 異質(zhì)異構(gòu)集成技術(shù) 617 30.2 Gerber數(shù)據(jù)和鉆孔數(shù)據(jù) 618 30.2.1 Gerber數(shù)據(jù)的生成及檢查 618 30.2.2 鉆孔數(shù)據(jù)的生成及比較 621 30.3 版圖拼版 622 30.4 多種掩模生成 624 30.4.1 掩模生成器 624 30.4.2 掩模生成實(shí)例 626 第3部分參考資料 630 后記和致謝 632
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