先進(jìn)電子封Modeling,Analysis,Design and Tests for Electronics Packaging beyond Moore(超摩爾時(shí)代電子封裝建模、分析、設(shè)計(jì)與測(cè)試)
定 價(jià):398 元
叢書名:先進(jìn)電子封裝技術(shù)與關(guān)鍵材料叢書
- 作者:張恒運(yùn)(Hengyun Zhang)、車法星(Faxing Che)、林挺宇(Tingyu Lin)、趙文生(Wensheng Zhao) 著
- 出版時(shí)間:2021/3/1
- ISBN:9787122379528
- 出 版 社:化學(xué)工業(yè)出版社
- 中圖法分類:TN05
- 頁碼:420
- 紙張:
- 版次:01
- 開本:16開精
本書系統(tǒng)介紹了超摩爾時(shí)代先進(jìn)封裝理論模型、分析與新的模擬結(jié)果。內(nèi)容涉及2.5D、3D、晶圓級(jí)封裝的電性能、熱性能、熱機(jī)械性能、散熱問題、可靠性問題、電氣串?dāng)_等問題,提出了基于多孔介質(zhì)體積平均理論的建模方法并應(yīng)用于日漸復(fù)雜的先進(jìn)封裝結(jié)構(gòu),以及模型驗(yàn)證、設(shè)計(jì)和測(cè)試,并從原理到應(yīng)用對(duì)封裝熱傳輸進(jìn)行了很好的介紹。同時(shí),引入并分析了碳納米管、金剛石鍍層、石墨烯等新材料的應(yīng)用性能。本書針對(duì)產(chǎn)品開發(fā)階段封裝的熱管理和應(yīng)力管理方面進(jìn)行了詳細(xì)闡述,在封裝性能測(cè)試、蒸汽層散熱器、微槽道冷卻、熱電制冷等方面也有涉及。相應(yīng)的試驗(yàn)測(cè)試和案例分析也便于讀者提高對(duì)封裝性能表征和評(píng)估方法的理解。
本書可作為從事微電子封裝行業(yè)人員的參考資料,也可供高等院校相關(guān)專業(yè)研究生和高年級(jí)本科生學(xué)習(xí)參考。
張恒運(yùn),上海工程技術(shù)大學(xué)教授,博士生導(dǎo)師,IEEE高級(jí)會(huì)員。曾任職于新加坡微電子研究院,美國超微半導(dǎo)體公司(新加坡)、美國道康寧公司(上海)。主持和參與新加坡先進(jìn)科技局、美國DARPA、上?莆⒆匀豢茖W(xué)基金、跨國公司項(xiàng)目近20項(xiàng),發(fā)表論文80多篇,GOOGLE Scholar引用率1000次。授予美國、新加坡發(fā)明專利和中國發(fā)明、實(shí)用新型專利共30多項(xiàng)。
車法星,新加坡微電子研究院研究員。曾就職于UTAC,意法半導(dǎo)體,英飛凌公司。發(fā)表論文120多篇,Google Scholar引用率近2000次。
林挺宇,無錫華進(jìn)半導(dǎo)體研究所技術(shù)總監(jiān)。曾任職于朗訊、飛利浦、摩托羅拉等公司和微電子研究院擔(dān)任高級(jí)經(jīng)理等職務(wù),參與超過100項(xiàng)電子產(chǎn)品開發(fā)工作,發(fā)表論文150多篇,申請(qǐng)、授予專利10多項(xiàng),主導(dǎo)兩項(xiàng)關(guān)于TSV的ASTM國際標(biāo)準(zhǔn)。
趙文生,IEEE高級(jí)會(huì)員,杭州電子科技大學(xué)副教授,發(fā)表論文70多篇。
Preface vii
Acknowledgments xi
About the authors xiii
1Introduction 1
1.1Evolution of integrated circuit packaging 1
1.2Performance and design methodology for integrated circuit packaging 6
References 11
Further reading 12
2Electrical modeling and design 13
2.1Fundamental theory13
2.2Modeling, characterization, and design of through-silicon via packages 28
References 53
3Thermal modeling, analysis, and design 59
3.1Principles of thermal analysis and design 59
3.2Package-level thermal analysis and design 74
3.3Numerical modeling 89
3.4Package-level thermal enhancement 97
3.5Air cooling for electronic devices with vapor chamber configurations 101
3.6Liquid cooling for electronic devices 106
3.7Thermoelectric cooling 112
References 126
4Stress and reliability analysis for interconnects 131
4.1Fundamental of mechanical properties 131
4.2Reliability test and analysis methods 149
4.3Case study of design-for-reliability 227
References 239
5Reliability and failure analysis of encapsulated packages 245
5.1Typical integrated circuit packaging failure modes 245
5.2Heat transfer and moisture diffusion in plastics integrated circuit packages 245
5.3Thermal- and moisture-induced stress analysis 263
5.4Fracture mechanics analysis in integrated circuits package 270
5.5Reliability enhancement in PBGA package 282
References 290
Further reading 292
6Thermal and mechanical tests for packages and materials 293
6.1Package them叫tests 293
6.2Material mechanical test and characterization 306
References 322
7System-level modeling, analysis, and design 325
7.1System-level them叫modeling and design 325
7.2Mechanical modeling and design for microcooler system 348
7.3Codesign modeling and analysis for advanced packages 370
References 389
Appendix 1 Nomenclature 393
Appendix 2 Conversion factors 403
Index 405