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先進(jìn)電子封Modeling,Analysis,Design and Tests for Electronics Packaging beyond Moore(超摩爾時(shí)代電子封裝建模、分析、設(shè)計(jì)與測(cè)試)

先進(jìn)電子封Modeling,Analysis,Design and Tests for Electronics Packaging beyond Moore(超摩爾時(shí)代電子封裝建模、分析、設(shè)計(jì)與測(cè)試)

定  價(jià):398 元

叢書名:先進(jìn)電子封裝技術(shù)與關(guān)鍵材料叢書

        

  • 作者:張恒運(yùn)(Hengyun Zhang)、車法星(Faxing Che)、林挺宇(Tingyu Lin)、趙文生(Wensheng Zhao) 著
  • 出版時(shí)間:2021/3/1
  • ISBN:9787122379528
  • 出 版 社:化學(xué)工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN05 
  • 頁碼:420
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16開精
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讀者對(duì)象:本書可作為從事微電子封裝行業(yè)人員的參考資料,也可供高等院校相關(guān)專業(yè)研究生和高年級(jí)本科生學(xué)習(xí)參考。

本書系統(tǒng)介紹了超摩爾時(shí)代先進(jìn)封裝理論模型、分析與新的模擬結(jié)果。內(nèi)容涉及2.5D、3D、晶圓級(jí)封裝的電性能、熱性能、熱機(jī)械性能、散熱問題、可靠性問題、電氣串?dāng)_等問題,提出了基于多孔介質(zhì)體積平均理論的建模方法并應(yīng)用于日漸復(fù)雜的先進(jìn)封裝結(jié)構(gòu),以及模型驗(yàn)證、設(shè)計(jì)和測(cè)試,并從原理到應(yīng)用對(duì)封裝熱傳輸進(jìn)行了很好的介紹。同時(shí),引入并分析了碳納米管、金剛石鍍層、石墨烯等新材料的應(yīng)用性能。本書針對(duì)產(chǎn)品開發(fā)階段封裝的熱管理和應(yīng)力管理方面進(jìn)行了詳細(xì)闡述,在封裝性能測(cè)試、蒸汽層散熱器、微槽道冷卻、熱電制冷等方面也有涉及。相應(yīng)的試驗(yàn)測(cè)試和案例分析也便于讀者提高對(duì)封裝性能表征和評(píng)估方法的理解。
本書可作為從事微電子封裝行業(yè)人員的參考資料,也可供高等院校相關(guān)專業(yè)研究生和高年級(jí)本科生學(xué)習(xí)參考。
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