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工作場所納米顆粒暴露監(jiān)測評估及控制技術(shù)

工作場所納米顆粒暴露監(jiān)測評估及控制技術(shù)

定  價:68 元

        

  • 作者:張美辨,唐仕川 編
  • 出版時間:2018/2/1
  • ISBN:9787511131010
  • 出 版 社:中國環(huán)境出版社
  • 中圖法分類:R134 
  • 頁碼:247
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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  《工作場所納米顆粒暴露監(jiān)測評估及控制技術(shù)》共分6章,重點(diǎn)介紹納米材料應(yīng)用及其健康風(fēng)險、工作場所納米顆粒暴露監(jiān)測、工作場所納米顆粒暴露評估方法、工作場所納米材料暴露控制、納米材料職業(yè)健康管理以及工作場所納米顆粒暴露監(jiān)測評估案例,面向各級職業(yè)病防治機(jī)構(gòu)(包括疾病預(yù)防控制中心)、大學(xué)、科研院所等從事科研和技術(shù)研究人員、職業(yè)衛(wèi)生監(jiān)管人員以及從事研制和生產(chǎn)納米顆粒的技術(shù)人員。
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