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光電測(cè)試技術(shù) 第3版

 光電測(cè)試技術(shù) 第3版

定  價(jià):49.8 元

叢書(shū)名:普通高等教育光電信息科學(xué)與工程規(guī)劃教材

        

  • 作者:劉國(guó)棟
  • 出版時(shí)間:2018/5/1
  • ISBN:9787111585640
  • 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN206-43 
  • 頁(yè)碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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本書(shū)為高等工科院校測(cè)控技術(shù)與儀器 光電信息工程 光電子技術(shù)等專業(yè)的光電測(cè)試技術(shù)課程通用教材。
本書(shū)首先系統(tǒng)地介紹了光電測(cè)量所必需的基礎(chǔ)理論,即光度學(xué)的基本理論和常用的光學(xué)系統(tǒng),然后深入、重點(diǎn)地講述了光電測(cè)量的三大基本要素:光源、光電檢測(cè)器件和光電檢測(cè)電路。
在本書(shū)的下篇(應(yīng)用技術(shù)篇),重點(diǎn)講述了光電測(cè)量的核心技術(shù):光學(xué)變換與光電變換技術(shù)及其測(cè)量系統(tǒng),包括光載波的調(diào)制變換技術(shù)、非相干信號(hào)的光電變換與檢測(cè)技術(shù)、相干信號(hào)調(diào)制變換與檢測(cè)技術(shù)。介紹了現(xiàn)代三大熱門測(cè)試技術(shù),即激光測(cè)量技術(shù)、視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)和光纖測(cè)量技術(shù),使讀者對(duì)光電測(cè)試系統(tǒng)及其應(yīng)用有了更深入的了解。
為了方便教學(xué),本書(shū)配有免費(fèi)教學(xué)課件。歡迎選用本書(shū)作為教材的教師登錄www.cmpedu.com注冊(cè)下載。

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