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光學(xué)測試技術(shù)(第2版)

光學(xué)測試技術(shù)(第2版)

定  價:28 元

叢書名:面向21世紀(jì)高等院校精品規(guī)劃教材

        

  • 作者:沙定國 主編
  • 出版時間:2010/1/1
  • ISBN:9787564025649
  • 出 版 社:北京理工大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TH740.6 
  • 頁碼:200
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:16開
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本書是一門專業(yè)技術(shù)基礎(chǔ)課程教材,適合于光學(xué)工程、光電技術(shù)、測控技術(shù)與儀器各專業(yè)。本書系統(tǒng)介紹了光學(xué)測試中七種主要測試技術(shù)的基本理論、主要應(yīng)用、測試方法和測量誤差分析等。在教材內(nèi)容上既注重基礎(chǔ)理論及實用性,又注意選擇國內(nèi)外有重要應(yīng)用價值的光學(xué)測試新技術(shù),其中不少是作者自己近年來的科研成果。因而使本教材既拓寬了知識面,又能適應(yīng)光學(xué)測試近期發(fā)展的需要。各章附思考與練習(xí)題、參考文獻,便于自學(xué)和組織教學(xué)。
本書所介紹的測試技術(shù),不僅適用于光學(xué)行業(yè),對航空航天、計量、測繪、機械、輕工等部門的有關(guān)行業(yè)也有實用價值。所以,本書還可供這些行業(yè)從事科研、生產(chǎn)的工作人員參考。
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