從１９６２年高海拔核測試導致的Ｔｅｌｅｓｔａｒ衛(wèi)星失效開始，自然或人造輻射可能干擾電子設備的操作這一事實已被人們所知曉。今天，航天器高度依賴于電子學。因此，空間輻射效應必須在設計階段就予以考慮，以保證這些項目的高可靠性和安全性要求。即使宇航級器件存在，在設計和／或制造層面采用所謂的輻射效應“加固”，它們相比于同等貨架產(chǎn)品（ＣｏｍｍｅｒｃｉａｌＯｆｆＴｈｅＳｈｅｌｆ，ＣＯＴＳ） 的高成本和低性能導致其用于空間的元器件量產(chǎn)（不是專門設計用于空間） 是準強制性的。這給未來任務的可行性和成功帶來一個巨大挑戰(zhàn)：一方面，必須盡可能地理解空間環(huán)境的本質(zhì)和變化性；另一方面，必須評價空間環(huán)境對電子器件的影響，考慮持續(xù)演化的技術和多種多樣的器件種類。
　　此外，隨著制造技術的持續(xù)發(fā)展，納米電子器件的特點（晶體管的尺寸、操作頻率）導致其潛在地對地球大氣，甚至地面上的粒子敏感。各種各樣應用中的大量集成電路產(chǎn)生一個不可忽略的概率：晶體管出現(xiàn)錯誤，統(tǒng)稱為“ＳＥＥ”
　�。ǎ樱椋睿纾欤澹牛觯澹睿簦牛妫妫澹悖簦�，單粒子效應），源于大氣中子與硅中原子核反應產(chǎn)生的二次粒子電離。這使得高可靠性／安全性的應用必須強制地在應用設計的前期考慮這些問題，引入需要的硬件／軟件錯誤耐受性機制。
　　估計一個器件或架構對輻射的敏感性是深入了解輻射對可靠性／安全性層次影響的強制步驟。這樣一個步驟要求輻射地面測試，即所謂的加速測試，通過輻射裝置，如粒子加速器或激光設備，和對應用環(huán)境建模的軟件工具來執(zhí)行。這樣的估計，尤其對于導致存儲器單元內(nèi)容擾動的單粒子翻轉(zhuǎn)（ＳＥＵ），也可能要求實現(xiàn)故障注入；在故障注入中，輻射效應的影響在對目標器件合適描述可用的層次被考慮�；�于不使用束流的故障注入方法獲得結(jié)果的實現(xiàn)和利用構成了一個寶貴的信息源，涉及應用的ＳＥＥ敏感性估計和一個設計或架構潛在的、應被加固的弱點識別。
　　本書致力于為讀者提供重要的指南，用于處理當今空間以及高海拔大氣或地面應用中應當包括的元器件輻射效應。本書包括一系列章節(jié)，基于２００５年１１月２０－２５日在巴西瑪瑙斯市舉辦的“用于空間的嵌入式系統(tǒng)輻射效應國際學�！�
　　的內(nèi)容。本書共分十二章，前三章分別涉及空間輻射環(huán)境的分析和建模、電子器件輻射效應的基礎機理、累積或瞬態(tài)輻射效應導致的一系列已知的電子器件飛行異常案例描述。
　　接著的三章致力于多級錯誤效應的評價、輻射對模擬和混合信號電路的影響［轉(zhuǎn)變?yōu)閱瘟Ｗ铀矐B(tài)（ＳＥＴ）和單粒子翻轉(zhuǎn)（ＳＥＵ）］、用于ＳＥＵ模擬的脈沖激光技術基理。
　　后續(xù)的三章涉及輻射效應的減緩技術：用于ＣＭＯＳ技術、保護電路不受輻射效應影響的設計加固（ＨＢＤ） 方法學，ＦＰＧＡ中的輻射效應和相關的緩和技術，設計加固自動工具的研究和進展。
　　最后三章致力于ＳＥＥ和劑量測試的裝置描述、數(shù)字架構錯誤率預計的測試方法學和工具以及一個脈沖激光系統(tǒng)用于研究輻射導致的集成電路單粒子瞬態(tài)的可能性。列出了三個案例研究，用于說明這種技術空間和時間分辨率的優(yōu)點。
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