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納米力學(xué)測試新方法-掃描探針聲學(xué)顯微術(shù)

納米力學(xué)測試新方法-掃描探針聲學(xué)顯微術(shù)

定  價(jià):78 元

叢書名:普通高等教育“十三五”規(guī)劃教材普通高等院校工程實(shí)踐系列規(guī)劃教材

        

  • 作者:李法新, 周錫龍, 付際著
  • 出版時(shí)間:2017/3/1
  • ISBN:9787030515766
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TB383.01 
  • 頁碼:185
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:32開
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讀者對象:力學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)等學(xué)科,特別是納米科學(xué)與技術(shù)領(lǐng)域的研究生、本生生以及相關(guān)研究人員

本書從AFAM的力學(xué)基礎(chǔ)-接觸力學(xué)出發(fā),闡述了AFAM的原理和基礎(chǔ)、準(zhǔn)確度和靈敏度、粘彈性成像,以及AFAM的廣泛應(yīng)用。此外,還對正在興起的多頻原子力顯微術(shù)進(jìn)行了介紹。

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