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實(shí)用X射線光譜分析

實(shí)用X射線光譜分析

定  價(jià):128 元

        

  • 作者:高新華,宋武元,鄧賽文,胡堅(jiān) 編著
  • 出版時(shí)間:2017/2/1
  • ISBN:9787122279590
  • 出 版 社:化學(xué)工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:O657.34 
  • 頁(yè)碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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本書(shū)是現(xiàn)代X射線光譜分析綜合性參考書(shū)。全書(shū)共分十七章,系統(tǒng)介紹X射線的物理基礎(chǔ),基本性質(zhì),激發(fā),色散,探測(cè)與測(cè)量,波長(zhǎng)色散與能量色散光譜儀,基體效應(yīng),光譜背景和譜線重疊,樣品制備,定性與半定量分析,實(shí)驗(yàn)校正法,數(shù)學(xué)校正法定量分析,薄膜和鍍層厚度分析,應(yīng)用實(shí)例及分析誤差與不確定度等內(nèi)容。附錄列舉了X射線熒光光譜分析常用的物理常數(shù),相關(guān)數(shù)據(jù)等,供讀者參考使用。本書(shū)適用于冶金,地質(zhì),礦山,建材,檢驗(yàn)檢疫,石油,化工,環(huán)境,農(nóng)業(yè),生物,食品,醫(yī)藥,文物及考古等部門(mén)從事X射線光譜分析的專業(yè)人員及相關(guān)工程技術(shù)人員參考,同時(shí)適用于高等院校相關(guān)專業(yè)師生,研究生及科研院所工程技術(shù)人員參考。
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