納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)匯編(第3版)
定 價(jià):260 元
- 作者:全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì),中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社 編
- 出版時(shí)間:2016/6/1
- ISBN:9787506682411
- 出 版 社:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
- 中圖法分類(lèi):TB383-65
- 頁(yè)碼:799
- 紙張:膠版紙
- 版次:3
- 開(kāi)本:16開(kāi)
《納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)匯編(第3版)》主要收集了截至2016年3月底批準(zhǔn)、發(fā)布的與納米技術(shù)相關(guān)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)60余項(xiàng)。與2010年出版的第2版相比,新增標(biāo)準(zhǔn)30余項(xiàng),修訂標(biāo)準(zhǔn)1項(xiàng)。內(nèi)容涉及納米技術(shù)領(lǐng)域通用標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、檢測(cè)方法標(biāo)準(zhǔn)。
本匯編可供納米技術(shù)相關(guān)的科研、生產(chǎn)、檢驗(yàn)技術(shù)人員使用,也可供高校納米材料、納米技術(shù)等專(zhuān)業(yè)的師生參考使用。
一、通用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17507—2008透射電子顯微鏡x射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件
GB/T 18735—2014 微束分析 分析電鏡(AEM/EDS)納米薄標(biāo)樣通用規(guī)范
GB/T 18873—2008生物薄試樣的透射電子顯微鏡一X射線能譜定量分析通則
GB/T 19619—2004納米材料術(shù)語(yǔ)
GB/T 20307—2006 納米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
GB/T 22458—2008儀器化納米壓入試驗(yàn)方法通則
GB/T 28044—2011 納米材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法通則
GB/T 28873—2012 納米顆粒生物形貌效應(yīng)的環(huán)境掃描電子顯微鏡檢測(cè)方法通則
GB/T 30544.1—2014納米科技術(shù)語(yǔ)第1部分:核心術(shù)語(yǔ)
GB/T 30544.3—2015納米科技術(shù)語(yǔ)第3部分:碳納米物體
GB/T 30544.5—2014納米科技術(shù)語(yǔ)第5部分:納米/生物界面
GB/T 31228 2014儀器化納米壓人試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)
GB/T 32269—2015 納米科技 納米物體的術(shù)語(yǔ)和定義 納米顆粒、納米纖維和納米片
二、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 19345 2003非晶、納米晶軟磁合金帶材
GB/T 19588 2004納米鎳粉
GB/T 19589—2004納米氧化鋅
GB/T 19590 2011 納米碳酸鈣
GB/T 19591—2004. 納米二氧化鈦
GB/T 21511.1—2008納米磷灰石/聚酰胺復(fù)合材料第1部分:命名
GB/T 21511.2—2008 納米磷灰石/聚酰胺復(fù)合材料 第2部分:技術(shù)要求
GB/T 22925 2009 納米技術(shù)處理服裝
GB/T 24491—2009 多壁碳納米管
GB/T 26824—2011 納米氧化鋁
GB/T 30448—2013 納米鐵粉
GB/T 30449—2013 納米二氧化錫
GB/T 30450—2013 納米硫化鎘
三、檢測(cè)方法標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6524—2003 金屬粉末 粒度分布的測(cè)量 重力沉降光透法
GB/T 10722—2014 炭黑 總表面積和外表面積的測(cè)定 氮吸附法
GB 11847—2008二氧化鈾粉末比表面積測(cè)定BET容量法
GB/T 12334—2001 金屬和其他非有機(jī)覆蓋層 關(guān)于厚度測(cè)量的定義和一般規(guī)則
GB/T 13221—2004納米粉末粒度分布的測(cè)定 X射線小角散射法
GB/T 13390 2008 金屬粉末比表面積的測(cè)定 氮吸附法
GB/T 18907—2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法
GB/T 19077.1~2008粒度分析 激光衍射法第1部分:通則
GB/T 19346~2003非晶納米晶軟磁合金交流磁性能測(cè)試方法
GB/T 19587—2004 氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積
GB/T 19627—2005粒度分析光子相關(guān)光譜法
GB/T 19921 2005 硅拋光片表面顆粒測(cè)試方法
GB/T 19922—2005 硅片局部平整度非接觸式標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
GB/T 20099—2006樣品制備粉末在液體中的分散方法
GB/T 20170.1—2006 稀土金屬及其化合物物理性能測(cè)試方法 稀土化合物粒度分布的測(cè)定
GB/T 20170.2—2006 稀土金屬及其化合物物理性能測(cè)試方法 稀土化合物比表面積的測(cè)定
GB/T 21510—2008納米無(wú)機(jī)材料抗菌性能檢測(cè)方法
GB/T 22462 2008 鋼表面納米、亞微米尺度薄膜 元素深度分布的定量測(cè)定 輝光放電原子發(fā)射光譜法
GB/T 23413 2009 納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測(cè)定 x射線衍射線寬化法
GB/T 24369.1—2009金納米棒表征第1部分:紫外/可見(jiàn)/近紅外吸收光譜方法
GB/T 24370~2009 硒化鎘量子點(diǎn)納米晶體表征 紫外一可見(jiàn)吸收光譜方法
GB/T 24490一2009 多壁碳納米管純度的測(cè)量方法
GB/T 25898—2010儀器化納米壓入試驗(yàn)方法 薄膜的壓人硬度和彈性模量
GB/T 26489—2011 納米材料超雙親性能檢測(cè)方法
GB/T 26490一2011 納米材料超雙疏性能檢測(cè)方法
GB/T 26826—2011 碳納米管直徑的測(cè)量方法
GB/T 27760—2011 利用Si(111)晶面原子臺(tái)階對(duì)原子力顯微鏡亞納米高度測(cè)量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法
GB/T 27765—2011 SiO2、TiO2、Fe3O4及Al2O3納米顆粒生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
GB/T 28872—2012 活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動(dòng)輕敲模式 原子力顯微鏡檢測(cè)方法
GB/T 28973—2012 番茄環(huán)斑病毒檢疫鑒定方法 納米顆粒增敏膠體金免疫層析法
GB/T 28974—2012 馬鈴薯A病毒檢疫鑒定方法 納米顆粒增敏膠體金免疫層析法
GB/T 28975—2012 萵苣花葉病毒檢疫鑒定方法 納米顆粒增敏膠體金免疫層析法
GB/T 29189—2012 碳納米管氧化溫度及灰分的熱重分析法
GB/T 29856—2013半導(dǎo)體性單壁碳納米管的近紅外光致發(fā)光光譜表征方法
GB/T 30447—2013 納米薄膜接觸角測(cè)量方法
GB/T 30452—2013光催化納米材料光解指數(shù)測(cè)試方法
GB/T 30543—2014納米技術(shù) 單壁碳納米管的透射電子顯微術(shù)表征方法
GB/T 31229~2014熱重法測(cè)定揮發(fā)速率的試驗(yàn)方法
GB/T 32006—2015金納米棒光熱效應(yīng)的評(píng)價(jià)方法
GB/Z 21738—2008一維納米材料的基本結(jié)構(gòu) 高分辨透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
GB/Z 26082—2010納米材料直流磁化率(磁矩)測(cè)量方法