CEI（connectedelementinterferometry，連線干涉測量，也可稱為“短基線干涉測量”）技術(shù)是干涉測量技術(shù)的一種，其基線長度一般為幾十千米；其通過對載波相時延的測量，進而實時獲得目標相對于基線矢量的精確角位置，可適用于中高軌衛(wèi)星的高精度測定軌及相對定位�！禖EI測量技術(shù)原理、系統(tǒng)設(shè)計與應(yīng)用》重點介紹了CEI技術(shù)的基本原理，CEI系統(tǒng)的設(shè)計構(gòu)建，實現(xiàn)CEI所突破的關(guān)鍵技術(shù)，以及CEI技術(shù)的工程應(yīng)用實例；內(nèi)容豐富全面，理論與實踐并重。《CEI測量技術(shù)原理、系統(tǒng)設(shè)計與應(yīng)用》有助

本書共分4章，系統(tǒng)地介紹了力、電、光等基礎(chǔ)理論知識和物理實驗基礎(chǔ)知識，并在此基礎(chǔ)上根據(jù)物理實驗室建設(shè)情況設(shè)計了力、電、光共21個實驗項目，使基礎(chǔ)理論和實踐操作有機統(tǒng)一，并拓展了相關(guān)知識在國防軍事與生產(chǎn)生活中的應(yīng)用。

本書系統(tǒng)地介紹了物理和材料研究領(lǐng)域常用的單晶生長和薄膜制備方法，以及用來表征晶體或薄膜結(jié)構(gòu)、顯微組織、形貌、成分、價態(tài)等方面的分析技術(shù)；涵蓋了X射線衍射技術(shù)、各種電子顯微技術(shù)、掃描探針技術(shù)、能譜技術(shù)、表面物理分析技術(shù)、核物理方法測試技術(shù)和光譜分析技術(shù)。并對這些分析技術(shù)的基本原理、儀器結(jié)構(gòu)和應(yīng)用等進行了系統(tǒng)的闡述。具體涉及的分析儀器包括X射線衍射儀、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、能譜儀、波譜儀、低能電子衍射、高能電子衍射、俄歇電子能譜、X射線光電子能譜、掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡、正電子湮沒技