本書在介紹固體缺陷及線彈性斷裂力學(xué)理論、掃描電子顯微鏡原理及結(jié)構(gòu)、幾何相位分析方法等的基礎(chǔ)上，將原位掃描電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)與幾何相位分析方法相結(jié)合，深入分析了5A05鋁合金、多晶鉬及單晶硅中微裂紋的萌生及擴(kuò)展過程，研究了裂紋尖端的微米尺度及亞微米尺度應(yīng)變場。